[发明专利]一种X射线衍射峰高比的定点测量方法

权利要求书

1.一种X射线衍射峰高比的定点测量方法，其特征在于包括以下步骤：

1)将粉末样品压片，于X射线衍射仪上进行测定，得到样品的X射线衍射谱图，根据其物相组成确定需要求解哪些峰的峰高比来表征材料性能；

2)优化定点测量方法求峰高比所用的计数时间；

3)通过常规的连续扫描方法得到样品衍射峰的峰高比结果；

4)采用定点测量方法得到样品衍射峰的峰高比结果；

5)比较步骤3)和步骤4)测定结果，查看采用定点测量方法所获得峰高比重复性与常规连续扫描方法所获得峰高比重复性；

6)重新制样，采用定点测量方法测定重新制样后样品衍射峰的峰高比，比较步骤6)与步骤4)测定结果。

2.如权利要求1所述的一种X射线衍射峰高比的定点测量方法，其特征在于所述步骤4)还包括以下步骤：

a)对测定试样进行分段扫描得到需要求解的各个晶面的衍射线对应的2θ值；

b)分别固定2θ于各个峰位，固定计数时间，测定各个峰强度值I，即分别得到I₁，I₂，I₃，…；

c)通过计算得到峰高比I₂/I₁，I₃/I₁，…。

3.如权利要求1所述的一种X射线衍射峰高比的定点测量方法，其特征在于所述步骤6)中当重新制样对于定量测定有一定影响时，通过使用旋转样品台附件来消除制样对其的影响。