[发明专利]一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法有效
| 申请号： | 200610140892.0 | 申请日： | 2006-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN101165474A | 公开（公告）日： | 2008-04-23 |
| 发明（设计）人： | 兰国政;吴少凡;林文雄 | 申请（专利权）人： | 中国科学院福建物质结构研究所 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/49 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350002福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 非线性 晶体 激光 损伤 阈值 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法，其特征在于：应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件，采用He-Ne激光散射法，通过硅光电二极管来接收激光照射前后非线性晶体器件表面对He-Ne激光的散射变化，形成脉冲TTL信号，利用继电器来控制设置在光路上的挡板，利用计时器来记录激光照射时间；逐渐加大连续激光的输出功率，直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化；通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度，计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。
2.一种权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述的非线性晶体为LBO、BBO、KTP、LN、BIBO、KBBF、KN。
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