[发明专利]光检测器装配位置调整方法及设备无效
申请号: | 200610143306.8 | 申请日: | 2006-11-03 |
公开(公告)号: | CN101174438A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
发明(设计)人: | 洪瑞贤;游宪政;李源钦;巫秉融 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G11B7/22 | 分类号: | G11B7/22;G11B7/13;G11B33/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 钱大勇;蒲迈文 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测器 装配 位置 调整 方法 设备 | ||
1.一种光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,适于调整一光检测器对应于一光学读取头的回光位置,该光检测器固定于一固定装置上,一激光束的反射光通过该光学读取头而照射该光检测器的感应区以形成一光点,该调整方法包括:
(a)驱动该光学读取头进入一第一阶段;
(b)若一第一条件不成立,则根据一X轴光检测信号及一Y轴光检测信号的幅度变化方向及幅度大小在由该X轴与该Y轴所构成的一XY平面移动该固定装置,直到该第一条件成立,其中该X轴光检测信号及该Y轴光检测信号是根据该光点在该感应区的位置而产生;
(c)驱动该光学读取头进入一第二阶段;
(d)沿一Z轴移动该固定装置直到一射频信号为最强,其中该Z轴与该XY平面垂直,该射频信号为根据该光点的照射强度而产生;以及
(e)若一第二条件不成立,则根据该X轴光检测信号及该Y轴光检测信号的直流电平或信号相位在该XY平面移动该固定装置,直到该第二条件成立。
2.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,于步骤(a)之前还包括移动该光检测器至一预设位置,其中该预设位置是由先前多个光学读取头的光检测器经调整后的装配位置平均得来。
3.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该第一条件为该X轴光检测信号及该Y轴光检测信号的幅度皆小于一第一默认值。
4.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中步骤(b)包括:
根据该X轴光检测信号及该Y轴光检测信号的幅度变化方向决定该固定装置的移动方向;以及
根据该X轴光检测信号及该Y轴光检测信号的幅度大小决定该固定装置的移动量。
5.如权利要求4所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动方向分别与该X、Y轴光检测信号的幅度变化同向,且该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动量分别与该X、Y轴光检测信号的幅度大小成正比。
6.如权利要求4所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动方向分别与该X、Y轴光检测信号的幅度变化反向,且该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动量分别与该X、Y轴光检测信号的幅度大小成正比。
7.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中若根据该X、Y轴光检测信号的直流电平在该XY平面移动该固定装置,则该第二条件为该X、Y轴光检测信号的直流电平皆小于一第二默认值;若根据该X、Y轴光检测信号的信号相位在该XY平面移动该固定装置,则该第二条件为该X、Y轴光检测信号的相位差小于一第三默认值。
8.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中若根据该X、Y轴光检测信号的直流电平在该XY平面移动该固定装置,则步骤(e)包括:
根据该X、Y轴光检测信号的直流电平的正负决定该固定装置的移动方向;以及
根据该X、Y轴光检测信号的直流电平的大小决定该固定装置的移动量。
9.如权利要求8所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动方向分别与该X、Y轴光检测信号的直流电平的正负方向相同,且该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动量分别与该X、Y轴光检测信号的直流电平的绝对值成正比。
10.如权利要求8所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动方向分别与该X、Y轴光检测信号的直流电平的正负方向相反,且该固定装置在该XY平面的X、Y轴的移动量分别与该X、Y轴光检测信号的直流电平的绝对值成正比。
11.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该XY平面平行该光检测器的感测区。
12.如权利要求1所述的光学读取头的光检测器装配位置的调整方法,其中该第一阶段为S曲线搜寻阶段,该第二阶段为聚焦阶段。
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