[发明专利]磁盘驱动器的磁头磁极宽度测量方法

权利要求书

1.一种对磁盘驱动器的磁头磁极宽度进行测量的方法，包括如下步骤：

(1)获取磁极表面的原始图像；

(2)计算原始图像的光强分布轮廓，确定轮廓的最大及最小光强数据点；

(3)将最大光强数据点与最小光强数据点的均值设定为阈值；

(4)对轮廓二次微分，从而获得二次微分渐近线；

(5)确定二次微分渐近线与阈值的交点；

(6)计算交点之间的距离，从而获得初次磁极宽度；及

(7)对初次磁极宽度进行数据补偿，从而获得补偿后的磁极宽度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述步骤(7)包括如下步骤：

(71)提供含有一组预设磁极宽度数值及与该组预设磁极宽度数值对应的补偿数值的补偿数据库；

(72)将初次磁极宽度的数值输入到补偿数据库中；

(73)比较初次磁极宽度数值与预设磁极宽度数值；当数值相同时，执行步骤(74a)将预设磁极宽度数值与对应的补偿数据相加，从而获得补偿后的磁极宽度；当数据不同时，执行步骤(74b)将与初次磁极宽度数值最接近的预设磁极宽度数值与对应的补偿数据相加，从而获得补偿后的磁极宽度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于：所述与预设磁极宽度数值对应的补偿数据为负值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述步骤(1)包括(a)借助光学放大系统获得磁极表面放大的图像；及(b)借助电荷耦合器件式相机捕捉放大的图像。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述光学放大系统包括两组透镜放大系统。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：所述光学放大系统使用波长为248nm的深紫外线作为光源。

7.一种微观物体边缘距离测量方法，包括如下步骤：

(1)获取微观物体表面的原始图像；

(2)对原始图像进行处理，获得初次边缘距离；及

(3)对初次边缘距离进行数据补偿，从而获得补偿后的边缘距离。

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：所述步骤(3)包括如下步骤：

(31)提供含有一组预设边缘距离数值及与该组预设边缘距离数值对应的补偿数值的补偿数据库；

(32)将初次边缘距离的数值输入到补偿数据库中；

(33)比较初次边缘距离数值与预设边缘距离数值；当数值相同时，执行步骤(34a)将预设边缘距离数值与对应的补偿数据相加，从而获得补偿后的边缘距离；当数据不同时，执行步骤(34b)将与初次边缘距离数值最接近的预设边缘距离数值与对应的补偿数据相加，从而获得补偿后的边缘距离。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于：所述与预设边缘距离数值对应的补偿数据为负值。

10.根据权利要求7所述的方法，其特征在于：所述步骤(1)包括(a)借助光学放大系统获得微观物体表面放大的图像；及(b)借助电荷耦合器件式相机捕捉放大的图像。