[发明专利]超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法

权利要求书

1.一种超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，包括超声波探头及与其连接的计算装置，其特征在于，所述的方法包括下列步骤

步骤一，将超声波探头至于灵敏度调节试块上表面一侧，并在试块另一侧开设一个距上表面有一定距离的平底孔；

步骤二，调节超声波检测灵敏度，将超声波探头移动到上述距离平底孔100mm处，将最高反射波高调至20-50％作为基准高；

步骤三，将超声波探头置于被测工件上表面并接收工件表面反射波的波高，计算该反射波高和基准高之差y^*，根据测算公式即可求得表面缺陷埋藏深度。

2.根据权利要求1所述的超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，其特征在于，所述超声波检测灵敏度是以100mm处试件直角棱边表面波反射波高调至满屏20％增益25dB作为标准的。

3.根据权利要求1或2所述的超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，其特征在于，所述平底孔距上表面距离小于探测用超声波波长。

4.根据权利要求1或2所述的超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，其特征在于，所述测算公式为：

y^*＝16.67e^-0.58085x

其中：y^*为工件表面反射波高和基准波高之差，dB；

x为缺陷埋藏深度，μm。

5.根据权利要求4所述的超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，其特征在于，所述超声波波长为1MHz，入射角为64°50′～66°。

6.根据权利要求4所述的超声波检测近表层缺陷埋藏深度的方法，其特征在于，所述工件表面粗糙度不大于0.32μm。