[发明专利]触控输入装置、触摸定位装置及其方法有效

专利信息
申请号: 200610152233.9 申请日: 2006-09-20
公开(公告)号: CN101149659A 公开(公告)日: 2008-03-26
发明(设计)人: 罗立声;魏优兵 申请(专利权)人: 凌阳科技股份有限公司;北京北阳电子技术有限公司
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 许志勇;颜涛
地址: 台湾省新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 输入 装置 触摸 定位 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种触控输入装置,包括第一印刷电路层与第二印刷电路层,其特征在于,其中:

所述第一印刷电路层包括一绝缘材料基体,在该基体的其中一面,水平印刷有多条相互平行的导线,沿每条导线上顺序铺设有多个碳膜接触点,形成碳膜接触点矩阵;在各相邻导线之间分别跨接有一电阻,形成一串联连接的电阻网络;

所述第二印刷电路层包括一绝缘材料基体,在该基体的其中一面,垂直印刷有多条相互平行的导线,沿每条导线上顺序铺设有多个碳膜接触点,形成碳膜接触点矩阵;在各相邻导线之间分别跨接有一电阻,形成一串联连接的电阻网络;

所述第一与第二印刷电路层上印刷有导线的一面相向对叠固定,所述第一印刷电路层上的多个碳膜接触点与所述第二印刷电路层上的多个碳膜接触点的数量一致,且位置一一对应,每对对应的碳膜接触点在无压力时不接触导通,在遇压力时接触导通,使对应的水平导线与垂直导线连通。

2.如权利要求1所述的触控输入装置,其特征在于,所述碳膜接触点为多条碳线形成的网状结构。

3.如权利要求1所述的触控输入装置,其特征在于,所述每个碳膜接触点是以导线为中心、面积为手指见方;相邻碳膜接触点的间距小于碳膜接触点横截面的宽度。

4.如权利要求1所述的触控输入装置,其特征在于,所述电阻布置于基体的边缘;各电阻的阻值相等。

5.如权利要求1所述的触控输入装置,其特征在于,所述绝缘材料基体为塑料膜片。

6.如权利要求1所述的触控输入装置,其特征在于,所述相向对叠固定的第一与第二印刷电路层的四周密闭,内部抽成真空。

7.一种包括如权利要求1至6任一项所述触控输入装置的触摸定位装置,其特征在于,还包括数据处理单元;

该数据处理单元连接所述触控输入装置的电阻网络两端,用于检测触控输入装置输入信号,并计算获取相应触点的坐标数据。

8.如权利要求7所述的触摸定位装置,其特征在于,还包括一输出单元,用于输出所述触摸定位坐标位置。

9.如权利要求7所述的触摸定位装置,其特征在于,所述数据处理单元包括:

检测单元,用于分别为第一和第二印刷电路层上的电阻网络两端加压,并分别通过检测对应的第二和第一印刷电路层上的电阻网络的某一端以获取对应水平和垂直方向上的分压参数;

分压参数存储单元,用于存储所述碳膜接触点对应水平和垂直导线的基准分压参数;

坐标运算单元,用于将检测单元检测触点获取的水平和垂直方向上的分压参数与分压参数存储单元存储的基准分压参数比对,得到发生接触的一对碳膜接触点的坐标位置。

10.如权利要求9所述的触摸定位装置,其特征在于,所述数据处理单元还包括一校正单元,用于在检测单元获得水平或垂直方向上的分压值后,进一步分别为第一或第二印刷电路层上的电阻网络两端加反向电压,并分别通过检测对应的第二或第一印刷电路层上的电阻网络的某一端获得水平或垂直方向上的反向电压分压参数;

所述坐标运算单元,进一步将该检测单元检测触点获取的水平或垂直方向上的反向分压参数与分压参数存储单元存储的基准反向分压参数比对,得到发生接触的一对碳膜接触点的另一水平或垂直坐标位置,判断该两个水平或垂直坐标位置是否相同,如果均相同则确定该对碳膜接触点的位置为发生接触的位置。

11.如权利要求9所述的触摸定位装置,其特征在于,所述检测单元包括一个模拟数字转换器,用于检测对应的第二和第一印刷电路层上的电阻网络的某一端以获取对应水平和垂直方向上的分压参数。

12.如权利要求7所述的触摸定位装置,其特征在于:所述数据处理单元为单片机或嵌入式芯片。

13.一种触摸定位方法,其特征在于,包括步骤:

1)数据处理单元为触控输入装置的第一电阻网络两端加压;

2)所述数据处理单元检测触控输入装置第二电阻网络的其中一端,获取第一分压参数;

3)数据处理单元为触控输入装置的第二电阻网络两端加压;

4)所述数据处理单元检测触控输入装置第一电阻网络的其中一端,获取第二分压参数;

5)所述数据处理单元根据步骤2)和4)中的第一分压参数和第二分压参数确定触点坐标位置。

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