[发明专利]测试影像传感器的装置、方法以及设备

说明书

技术领域

本发明关于一种测试影像传感器的装置、方法及设备，特别关于一种使用扩散光束来测试影像传感器的装置、方法及设备。

背景技术

参考图1，传统的影像传感器(image sensor)100包括一基板110，其一上表面112具有一感测区域120，用以接收影像光束130；该基板110的一下表面114则设有多个凸块140，用以将该感测区域120所测得的影像信号传送至外界。为了使外界的脏污不致污染该感测区域120，常于该感测区域120上方设置一透光盖体150，以保护该感测区域120。

参考图2，为了测试该影像传感器100的性能，会以一平行光230作为测试光源，穿过该透光盖体150投射至该感测区域120上。若该透光盖体150的表面有一污点260，如灰尘或水渍等，入射的该平行光束230遇到该污点260后会于该感测区域120产生阴影，造成测试系统的误判。有鉴于此，参考图3a及图3b，业界遂使用一透镜组270将该平行光束230转变为一收敛光束230a或一发散光束230b，使该收敛光束230a或该发散光束230b斜向投射在该透光盖体150及该感测区域120上，以减小因附着于该透光盖体150表面的该污点260在该感测区域120所产生的阴影。

然而，不论是使用该收敛光束230a或该发散光束230b，该感测区域120上的每一点仅会受到来自某一特定方向光束的照射，当此特定方向的光束为该透光盖体150表面的该污点260所阻隔时，仍然会在该感测区域120产生阴影，测试系统误判的情形仍有可能发生。

有鉴于此，便有须提出一种测试影像传感器的装置及方法，以解决上述问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种测试影像传感器的装置，可产生扩散的测试光束，以避免盖体表面上的污点于感测区域产生阴影，造成测试误判。

在一实施例中，本发明的测试影像传感器的装置包括一光源及一光束扩散片，光束扩散片用以将光源所产生的光束转换为扩散光束，以投射至影像传感器的感测区域上。

本发明的另一目的在于提供一种测试影像传感器的设备，其包括上述的测试影像传感器的装置，同时还具有一测试机台，用以与影像传感器电性连接，以接收来自感测区域所测得的影像信号。

本发明的再一目的在于提供一种测试影像传感器的方法。

根据本发明的测试影像传感器的装置、方法与设备，因使用光束扩散片，可将经光束扩散片转换后的扩散光束投射在传感器上，因此使感测区域上的任一点所接受到的测试光束从多个方向而来。当来自某一方向的光束为透光盖体表面上的污点所阻隔时，仍然会有其它方向的光束到达该点，因此污点所造成的阴影并不明显，测试误判的情形因而大大的降低。

为了让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显，下文特举本发明实施例，并配合附图，作详细说明如下。

附图说明

图1：为传统影像传感器的示意图。

图2：为图1的影像传感器，盖体的表面附着有污点。

图3a：为传统测试影像传感器的装置，其中投射至传感器的感测区域的测试光束为收敛光束。

图3b：为传统测试影像传感器的装置，其中投射至传感器的感测区域的测试光束为发散光束。

图4：为本发明的测试影像传感器的设备的示意图。

图5a：为本发明的光束扩散片，其为棱镜片。

图5b：为本发明的光束扩散片，其为菲涅耳透镜。

图5c：为本发明的光束扩散片，其为二阶式光栅。

图6a：为本发明的光束扩散片配合均匀扩散片使用。

图6b：为本发明的光束扩散片配合偏光片使用，其中该偏光片设于该光束扩散片的上游。

图6c：为本发明的光束扩散片配合偏光片使用，其中该偏光片设于该光束扩散片的下游。

图号说明

100影像传感器        110基板

112上表面            114下表面

120感测区域          130光束

140凸块              150透光盖体

230光束              230a收敛光束

230b发散光束         260污点

270透镜组            400影像感测设备

470光源              472光束

474扩散光束          480光束扩散片