[发明专利]一种立方系材料织构的定量测试分析方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种金属材料织构测试技术，尤其是一种立方系材料织构的定量测试分析方法。

背景技术

织构测量结果富有宏观的统计意义的方法常应用于工业生产中，而织构微区探测技术常应用于研究中，中子衍射由于造价极为昂贵，目前工业中常规测试未见应用，X射线衍射术在织构的探测中是最为有效的手段。

需要指出的是，材料织构的ODF目前尚不能用多晶衍射技术直接测得，而是通过该材料的一组极图(数据)或反极图(数据)算得。由于极图能直接、便捷而准确地被测出，因而从极图数据计算ODF就成为唯一现实的途径。从极图求算ODF的方法有作图法、解积分方程法、矢量法和谐分析法。其中谐分析法为现代织构分析术最基本的方法。在利用实测极图数据计算材料的ODF时，从不完整极图计算ODF具有较大的实际意义。其中“二步法”是从不完整极图计算ODF最成功、有效的方法。

1、完整极图计算ODF的方法

先按照谐分析方法将极图的极密度q_j(χ，η)和晶粒取向分布密度分别按下式展成级数；即

qj(χ,η)=Σl=0∞Σm=-1lQlmjPlm(cosχ)e-imη---(1)]]>

式(1)、(2)中，Q_lm^j为j晶面极图的极密度级数的第lm项系数；P_l^m(cosχ)为连带Legendre多项式；W_lmn为ODF级数的第1mn项系数；Z_lmn(cosθ)为增广Jacobi多项式。

(1)式的极密度级数系数Q_lm^j可由实测极密度数据q_j(χ，η)按下式直接求出，即：