[发明专利]主板发光二极管测试装置及方法

权利要求书

1.一种主板发光二极管测试装置，用于测试主板上的发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，其特征在于，该装置包括：

一块模板，置于所述主板上，该模板上设有感应与传输该主板上待测LED的光线的光纤；

一块面板，通过光纤与所述模板相连，所述光纤在该面板端分别有一个透明塑料头，用于主板上的待测LED的光源输出；

一个相机装置，固定于所述面板上，用于拍摄待测LED设置为亮和灭时该面板上的透明塑料头的影像；及

一台计算机，与所述主板和相机装置相连，用于控制所述待侧LED的光照度使得待测LED的状态设置为亮或灭，并处理上述拍摄的影像，根据所述透明塑料头在面板上的位置及透明塑料头的个数将处理后的影像分割成至少一张子影像，计算每张子影像的平均像素值，及分别计算所述子影像的平均像素值与一个亮参考值和一个灭参考值的差的绝对值，比较所述差的绝对值以确定主板待测LED的测试结果并找出导致测试失败的LED。

2.如权利要求1所述的主板发光二极管测试装置，其特征在于，所述亮参考值和灭参考值分别是指所述相机装置预先拍摄所述透明塑料头的样本为亮和灭时的影像所对应的平均像素值。

3.如权利要求2所述的主板发光二极管测试装置，其特征在于，所述计算机包括：

控制单元，用于控制所述待测LED的光照度使得所述待测LED设置为亮或灭，并控制所述相机装置预先拍摄所述透明塑料头的样本及控制该相机装置拍摄所述面板上的透明塑料头以获取影像；

影像处理单元，对所拍摄的影像进行处理，并根据透明塑料头在所述面板上的位置及透明塑料头的个数将处理后的影像分割成至少一张子影像；

计算单元，用于计算所述亮参考值和灭参考值，计算所述子影像的平均像素值，并分别计算所述子影像的平均像素值与所述亮参考值和灭参考值的差的绝对值；

对比单元，用于比较上述差的绝对值以判定所述子影像对应的待测LED的实际状态，并将所述待测LED的实际状态与设置状态进行比较，以获取主板待测LED的测试结果；

结果输出单元，用于输出上述待测LED的测试结果；及

侦测单元，用于找出导致测试失败的LED。

4.如权利要求3所述的发光二极管测试装置，其特征在于，若所述子影像的平均像素值与所述亮参考值的差的绝对值比该子影像的平均像素值与所述灭参考值的差的绝对值小，则判定该子影像所对应的待测LED为亮，反之，若所述子影像的平均像素值与所述亮参考值的差的绝对值比该子影像的平均像素值与所述灭参考值的差的绝对值大，则判定该子影像所对应的待测LED为灭。

5.如权利要求3所述的发光二极管测试装置，其特征在于，若所述待测LED的实际状态与设置状态都相同，则该主板待测LED通过测试，反之，若待测LED的实际状态与设置状态不同，则该主板待测LED测试失败。

6.如权利要求1所述的主板发光二极管测试装置，其特征在于，所述模板是根据主板的大小而设计，通过将对应于主板上需要插治具或元件的地方镂空而覆盖在主板上，该模板在对应于主板待测LED的位置分别有一条管道，所述管道内装有光纤，该模板通过所述光纤将主板待测LED分别与面板相连。