[发明专利]一种采样/保持电路装置无效
申请号: | 200610164878.4 | 申请日: | 2006-12-07 |
公开(公告)号: | CN101197193A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | 朱旭斌;石寅 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G11C27/02 | 分类号: | G11C27/02;H03K17/51;H03K17/60;H03K17/687;H03M1/12 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 采样 保持 电路 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种采样/保持电路装置,特别涉及一种用于模拟/数字转换器的采样/保持电路装置。
背景技术
简单的开关电容器采样/保持电路可用于在模拟连续时间域与采样数据域之间进行转换,其功能是对模拟输入信号进行跟踪采样,并根据后级信号处理的需要,将采样值保持一定的时间。图1的原理示意图图示出一简单的开关电容器采样/保持电路,输入模拟信号Vin被加到以周期性钟频断开与闭合的开关20。电容器22接在开关20的输出端与公共地之间,在其两端产生输出电压。电容器22通常是一种线性聚合物-聚合物(poly-poly)或金属-金属电容器。输出信号Vo是一采样的数据信号。开关20被断开与闭合的采样频率,必须高于输入信号最高频率的二倍,以满足Nyquist定理。
图2是目前在BiCMOS工艺中普遍采用的开关电容器采样/保持电路结构图,其中NPN型双极结型晶体管50、NPN型双极结型晶体管51、NPN型双极结型晶体管52和N沟道场效应晶体管53组成了采样/保持开关,电容器55为保持电容。该电路的工作原理如下:N沟道场效应晶体管53栅极接偏置电平,使其能提供NPN型双极结型晶体管52和NPN型双极结型晶体管51其中之一导通时所需的电流。当时钟信号clk为低电平时,NPN型双极结型晶体管52断开,NPN型双极结型晶体管50和NPN型双极结型晶体管51导通,此时输入电压Vin对电容器55进行充电,同时Vo跟踪Vin,输出与Vin相差一定电位的同相电压信号。当时钟信号clk为高电平时,NPN型双极结型晶体管52导通,NPN型双极结型晶体管50和NPN型双极结型晶体管51断开,电容器55开始放电,输出NPN型双极结型晶体管52导通瞬间时的Vo的电压值。由于NPN型双极结型晶体管50和NPN型双极结型晶体管51的PN结存储的电荷在时钟信号由低变高的瞬间注入电容器55的上极板,电容器55的输出将比正确值高出一定电位。只要通过对NPN型双极结型晶体管50、NPN型双极结型晶体管51和NPN型双极结型晶体管52选取合适的尺寸,对电容器55选取合适的大小,在时钟信号为高电平的半个周期内,电容器55的输出Vo将基本保持不变。
上述采样/保持电路均存在电荷注入的问题。开关20可以由双极结型晶体管组成,也可以由场效应晶体管组成,处于导通状态时,必然存在一定数量的电荷储存在与电容器22相邻的场效应晶体管或者双极结型晶体管中。这些电荷在开关20断开时,有一部分被沉积在电容器22上,这就给存储在电容器22上的电压值带来误差。
发明内容
本发明的目的是提供一种采样/保持电路装置,该电路能在不影响其他性能的前提下,有效地解决采样/保持电路中的电荷注入的问题。
为了实现本发明的目的,本发明公开了一种采样/保持电路装置,一种采样/保持电路装置,包括保持电容65和采样/保持开关装置;所述的采样/保持开关装置是由NPN型双极结型晶体管60、NPN型双极结型晶体管61、NPN型双极结型晶体管62和N沟道场效应晶体管63构成的偏置电路装置,其一端接至模拟或射频信号源,另一端接至保持电容器65;所述的NPN型双极结型晶体管60的集电极连接电源,基极耦合至NPN型双极结型晶体管62的集电极,发射极耦合至NPN型双极结型晶体管61的集电极;所述的NPN型双极结型晶体管61的发射极与NPN型双极结型晶体管62的发射极相连,并耦合至N沟道场效应晶体管63的漏极;所述的N沟道场效应晶体管63的源极与地相连,栅极连接偏置电压;工作时两个互补的采样/保持时钟信号分别从NPN型双极结型晶体管61的基极和NPN型双极结型晶体管62的基极接入采样/保持电路;在保持电容65与采样/保持开关装置之间还连接了一个补偿电路装置。
所述的采样/保持电路装置,所述补偿电路装置由源极与漏极相连的N沟道场效应晶体管64组成,另一个采样/保持时钟信号从所述的N沟道场效应晶体管64的栅极输入。
所述的采样/保持电路装置,所述从N沟道场效应晶体管64栅极输入的采样/保持时钟信号与从NPN型双极结型晶体管62基极输入的采样/保持时钟信号同相。
本发明提出的采样/保持电路装置采用增加一个补偿电路的方式,改善了电荷注入带来输出电平不正确的问题。它适用于所有的BiCMOS工艺,相对于目前普遍采用的结构,仅增加了一个N沟道场效应晶体管,故电路结构可以做得很简单,无需增加电路的复杂度,实现起来很方便。而且没有降低采样/保持电路的其他性能。
附图说明
图1是已有简型开关电容器采样/保持电路的原理图;
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