[发明专利]多晶硅刻蚀的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种半导体硅片加工工艺，尤其涉及一种多晶硅蚀刻工艺。

背景技术

目前，微电子技术已经进入超大规模集成电路和系统集成时代，微电子技术已经成为整个信息时代的标志和基础。

微电子技术中，要制造一块集成电路，需要经过集成电路设计、掩膜板制造、原始材料制造、芯片加工、封装、测试等几道工序。在这个过程中，对半导体硅片进行刻蚀，形成工艺沟槽，是关键的技术。

常用的蚀刻方法有湿法刻蚀和干法刻蚀两大类，其中湿法刻蚀是指利用液态化学试剂或溶液通过化学反应进行刻蚀的方法；干法刻蚀则主要是利用低压放电产生的等离子体中的离子或游离基(处于激发态的分子、原子及各种原子基团等)与材料发生化学反应或通过轰击等物理作用而达到刻蚀的目的。

多晶硅是集成电路多层结构中重要的区域，其图案化刻蚀质量对后续工艺流程将有直接影响。

如图1所示，多晶硅的层状结构自下而上一般包括：Si(硅)基层、SiO2绝缘膜、poly-Si(多晶硅)层、自然氧化层、硬质掩模层，硬质掩模层的上方是刻蚀用的PR(光阻)。

在深亚微米多晶硅干法刻蚀工艺中，形成一个完整的栅极结构，一般需要依次经过硬掩膜开启步骤、BT(自然氧化层开启)步骤、ME(多晶硅主刻蚀)步骤、OE(多晶硅过刻蚀)步骤，等几个工艺步骤。

在多晶硅刻蚀过程中，刻蚀线条的CD尺寸(线条的宽度等关键尺寸：CriticalDimension)是一个重要的参数指标，它对于半导体器件的性能起着重要的作用。有效的控制线条的CD尺寸变得越来越重要。

现有技术中一般是在ME步骤中通过调节气体(Cl2、HBr、HeO)的比例和流量来进行关键尺寸的调节，或者通过调节上、下RF(射频电源)的功率来实现对刻蚀线条的CD尺寸的控制，所述ME步骤主要是对poly-Si(多晶硅)层进行刻蚀。在接下来的OE步骤中，对poly-Si层和SiO2绝缘膜有极强的选择性，一方面要对poly-Si层进行彻底的刻蚀，另一方面要保护SiO2绝缘膜不被破坏。

因此，在ME步骤及OE步骤中对工艺条件的要求极为严格，而现有技术中，通过调节ME步骤中的工艺条件来实现对刻蚀线条的CD尺寸的控制。但是，在改变气体流量或者下RF的同时，也会影响到工艺气体对poly-Si层与SiO2绝缘膜的选择比。

发明内容

本发明的目的是提供一种既能有效的控制刻蚀线条的宽度尺寸，又不影响工艺气体对多晶硅层与SiO2绝缘膜的选择比的多晶硅刻蚀的方法。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的多晶硅刻蚀的方法，用于在多晶硅片上刻蚀线条，所述多晶硅片包括自然氧化层、多晶硅层、SiO2绝缘膜，所述多晶硅刻蚀的方法包括自然氧化层开启步骤、多晶硅层主刻步骤、多晶硅层过刻步骤，通过调整自然氧化层开启步骤中的刻蚀工艺参数来控制刻蚀线条的宽度尺寸。

所述的刻蚀工艺参数包括工艺气体的流量和/或上射频源的功率和/或下射频源的功率。

所述下射频源的功率调节范围为30～90W。

所述的工艺气体包括CF4气体，所述CF4气体的流量调整范围为30～100sccm。

所述上射频源的功率调节范围为250～400W。

所述的工艺气体的压力为5-10mT。

所述自然氧化层开启步骤的刻蚀时间为5～10s。

由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明所述的多晶硅刻蚀的方法，由于通过调整自然氧化层开启步骤中的刻蚀工艺参数来控制刻蚀线条的宽度尺寸，而多晶硅主刻蚀步骤中参数不改变，使得多晶硅主刻蚀步骤中的刻蚀速率和工艺气体对poly-Si层与SiO2绝缘膜的选择比都没有发生改变。

主要适用于对多晶硅片进行刻蚀，也适用于对其它类似的硅片进行刻蚀。

附图说明

图1为刻蚀前的硅片结构示意图；

图2为本发明刻蚀过程中，控制刻蚀线条宽度尺寸的原理图。

具体实施方式

本发明的多晶硅刻蚀的方法，主要用于在多晶硅片上刻蚀线条，所述多晶硅片包括自然氧化层、多晶硅层、SiO2绝缘膜。

本发明的多晶硅刻蚀的方法包括自然氧化层开启步骤、多晶硅层主刻步骤、多晶硅层过刻步骤，其较佳的具体实施方式是，通过调整自然氧化层开启步骤中的刻蚀工艺参数来控制刻蚀线条的宽度尺寸。