[发明专利]测量太赫兹时域光谱的方法及设备

权利要求书

1.一种测量太赫兹时域光谱的方法，包括步骤：

以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；

以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；

测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及

通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。

2.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：

通过反馈调节的方式控制所述第一飞秒激光器和所述第二飞秒激光器工作在相同的重复频率上。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述控制步骤包括：

通过调节所述第一飞秒激光器和/或所述第二飞秒激光器的腔长，来将所述第一脉冲激光束的相位与所述第二脉冲激光束的相位之间的相位差调节为预定的相位差。

4.如权利要求1所述的方法，还包括步骤：

基于所述重复频率将所述相位差转换成时间差。

5.一种测量太赫兹时域光谱的设备，包括：

第一飞秒激光器，用于以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；

第二飞秒激光器，用于以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；

测量装置，测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及

数据处理装置，通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。

6.如权利要求5所述的设备，还包括：

频率和相位控制装置，通过反馈调节的方式控制所述第一飞秒激光器和所述第二飞秒激光器工作在相同的重复频率上。

7.如权利要求6所述的设备，其特征在于，所述频率和相位控制装置通过调节所述第一飞秒激光器和/或所述第二飞秒激光器的腔长来将所述第一脉冲激光束的相位与所述第二脉冲激光束的相位之间的相位差调节为预定的相位差。

8.如权利要求5所述的设备，其特征在于：

所述数据转换装置基于所述重复频率将所述相位差转换成时间差。

9.如权利要求5所述的设备，其特征在于，所述第一和第二飞秒激光器的每一个都包括：连续激光泵浦源与飞秒振荡器。

10.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述连续激光泵浦源与飞秒振荡器是分立式的。

11.如权利要求9所述的设备，其特征在于，所述连续激光泵浦源与飞秒振荡器是集成式的。

12.如权利要求10所述的设备，其特征在于，所述第一和第二飞秒激光器使用同一个连续激光泵浦源。

13.如权利要求10所述的设备，其特征在于，所述第一和第二飞秒激光器使用各自的激光泵浦源。

14.如权利要求6所述的设备，还包括：

第一分束镜，设置在所述第一飞秒激光器的输出端，用于反馈第一脉冲激光束；

第一光电探测器，用于将反馈的第一脉冲激光束转换成电信号，作为所述反馈信号；

第二分束镜，设置在所述第二飞秒激光器的输出端；

第二光电探测器，用于将反馈的第二脉冲激光束转换成电信号，作为所述反馈信号。

15.如权利要求14所述的设备，其特征在于，所述第一分束镜和所述第一光电探测器集成在所述第一飞秒激光器内；所述第二分束镜和所述第二光电探测器集成在所述第二飞秒激光器内。

16.如权利要求14所述的设备，其特征在于，所述第一分束镜和所述第一光电探测器与所述第一飞秒激光器是分开的；所述第二分束镜和所述第二光电探测器与所述第二飞秒激光器是分开的。