[实用新型]一种分流器无效

专利信息
申请号: 200620015334.7 申请日: 2006-10-20
公开(公告)号: CN200976020Y 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 王春国;王毅 申请(专利权)人: 深圳长城开发科技股份有限公司
主分类号: G01R15/00 分类号: G01R15/00;G01R15/14
代理公司: 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 代理人: 郭伟刚
地址: 518035广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 分流器
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及电气测量元件,更具体地说,涉及一种分流器。

背景技术

分流器广泛应用于扩大仪表测量电流的范围,可用于对通讯系统、电子整机、自动化控制的电源等回路作限流、均流取样检测。分流器的主要部件为一小值电阻,其上设置有采样端,可通过调整采样端的位置来控制分流器的测量精度。

图1是现有技术传统分流器的结构示意图。如图1所示,该分流器在采样电阻16上焊接有电流采样线14和15。传统分流器多采用两根电流采样线对流经采样电阻的电流进行采样,对电流采样线的绕法和放置的位置也都没有特殊的要求。正常情况下,这种采样方法是没有影响的,但当空间存在交变电磁场时,应用这种方法获得的电流精度就会大受影响,当交变磁场的强度达到几百mT时,采用这种分流器结构的电能表的精度误差更会达到百分之几十甚至上百。

因此,上述传统分流器在存在交变磁场的环境中无法正常工作。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题在于,针对现有技术中传统分流器在存在交变磁场的环境中无法正常工作的缺陷,提供一种改进型分流器。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:构造一种分流器,包括采样电阻,以及焊接在所述采样电阻上的第一采样线和第四采样线;所述第一采样线和所述第四采样线的焊接位置分别靠近所述采样电阻的两端;所述第一采样线和所述第四采样线的焊接位置分别位于所述采样电阻的两侧;所述分流器上还焊接有:

第二采样线,其焊接位置靠近所述第一采样线所在的一端,以及所述第四采样线的一侧,并与所述第一采样线分别延伸后短接,构成第一输出端;

第三采样线,其焊接位置靠近所述第四采样线所在的一端,以及所述第一采样线的一侧,并与所述第四采样线分别延伸后短接,构成第二输出端;

在分别延伸后,所述第一采样线和所述第三采样线或所述第四采样线与所述采样电阻围成区域的面积,等于所述第二采样线和所述第四采样线或所述第三采样线与所述采样电阻围成区域的面积。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第一采样线从其焊接处沿所述采样电阻延伸至所述第三采样线或所述第四采样线的焊接位置,与所述第三采样线或所述第四采样线双绞后延伸。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第二采样线从其焊接处沿所述采样电阻延伸至所述第四采样线或所述第三采样线的焊接位置,与所述第四采样线或所述第三采样线双绞后延伸。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第一采样线和所述第三采样线或所述第四采样线分别从其各自焊接位置沿所述采样电阻延伸至二者焊接位置之间任一位置后双绞延伸。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第二采样线和所述第四采样线或所述第三采样线分别从其各自焊接位置沿所述采样电阻延伸至二者焊接位置之间任一位置后双绞延伸。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第一采样线和所述第三采样线或所述第四采样线分别从其各自焊接位置沿所述采样电阻延伸至二者焊接位置之间任一位置后平行延伸。

在本实用新型所述的分流器中,在分别短接前,

所述第二采样线和所述第四采样线或所述第三采样线分别从其各自焊接位置沿所述采样电阻延伸至二者焊接位置之间任一位置后平行延伸。

在本实用新型所述的分流器中,所述采样电阻为锰铜电阻或者康铜电阻。

本实用新型的技术方案具有以下有益效果,采用四根采样线替代传统分流器中的两根采样线,并对采样线在采样电阻上的焊接位置作对应设置,可完全消除直流磁场带来的影响,显著削弱交变磁场对分流器的影响,提高采样精度。

附图说明

下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明,附图中:

图1是现有技术传统分流器的结构示意图;

图2是本实用新型分流器的结构示意图;

图3是本实用新型分流器采样线焊接位置的示意图;

图4是本实用新型分流器第一种走线方式的结构示意图;

图5是本实用新型分流器第二种走线方式的结构示意图;

图6是本实用新型分流器第三种走线方式的结构示意图;

图7是本实用新型分流器第四种走线方式的结构示意图;

图8是本实用新型分流器第五种走线方式的结构示意图;

图9是本实用新型分流器安装位置的示意图。

具体实施方式

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