[实用新型]基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置无效

专利信息
申请号: 200620048285.7 申请日: 2006-11-29
公开(公告)号: CN200975970Y 公开(公告)日: 2007-11-14
发明(设计)人: 孙国强;郑继红;郑刚 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01N15/00 分类号: G01N15/00;G01N21/47
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 吴宝根
地址: 200093*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 激光 回馈 效应 细微 颗粒 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置,包括单模氦氖激光器,凹面全反镜(L),聚光透镜(R),光探测器(PD),放大器(A)及高速数模转换数据采集卡装置,示波器(OS),电脑(C),其特征在于,所述凹面全反镜(R)焦点设于聚光透镜(L)的焦点(F)上面,凹面全反镜(R)和聚光透镜(L)共焦后与激光谐振腔形成附加谐振腔,聚光透镜(L)后面的单模氦氖激光器经光探测器(PD)与放大器(A)相连接,放大器(A)通过高速数模转换数据采集卡装置将数据传送至示波器(OS)和电脑(C)。

2.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置,其特征在于,所述单模氦氖激光器的波长为632.8nm,输出光功率Pmax=5mw,输出光斑直径0.81毫米。

3.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置,其特征在于,所述聚光透镜(L)的焦距f=20mm。

4.根据权利要求1所述的基于激光回馈效应的细微颗粒测量装置,其特征在于,所述凹面全反镜(R)的焦距为30mm。

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