[实用新型]图像传感器无效
申请号: | 200620149925.3 | 申请日: | 2006-11-09 |
公开(公告)号: | CN200969351Y | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
发明(设计)人: | 吴沂庭 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种传感器,尤其涉及一种图像传感器。
背景技术
图像传感器(image sensor)是将光学资讯转换为电信号的装置。图像传感器的种类可大致分为影像管与固定摄像元件。目前,固定摄像元件包括电荷耦合(Charged Coupled Device,CCD)型与互补式金属氧化物半导体(CMOS)型两种。
CMOS图像传感器驱动方式简便,可实现多种扫描方式,而且可将信号处理电路制作成单一芯片,不仅可使产品实现小体积,而且相容于CMOS技术,可节省制造成本、降低电力损耗。因此,CMOS图像传感器可广泛应用于由于低阶影像产品如安全监控、数字相机、玩具、手机、图像电话等。
然而,现有的CMOS图像传感器的彩色滤光片(color filter,CF)为有机材料,熔点很低,约小于300℃,因此,彩色滤光片通常是在金属内连线形成之后,才形成在保护层上方,以避免被工艺的高温熔融。由于光线通过彩色滤光片之后,并非直接传递至光电二极管,而必须经过保护层、金属内连线结构,才能被光电二极管(photodiode)所接收,因此,光线会被介电层或保护层等膜层所吸收,其光线的穿透率低,互补式金属氧化物半导体晶体管图像传感器的感光效能不佳。另一方面,由于聚光镜之间有间隙,因此容易造成散射光线直接穿透间隙,甚至照射至相邻的光感测区,因而发生色干扰(cross-talk)现象,使CMOS图像传感器的噪声增加。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种图像传感器,其可以提升光效能并且可减缓色干扰的现象。
本实用新型提出一种图像传感器,其包括多个位于基底中的光电二极管掺杂区、位于基底上方的保护层、位于基底与保护层之间的介电层以及多个位于介电层之中且与光电二极管掺杂区相对应的彩色滤光片。
依照本实用新型实施例所述,上述彩色滤光片设置于介电层中的高度大致相同。彩色滤光片可设置于紧邻基底表面的介电层中、设置于紧邻保护层的介电层中,或是设置于介电层中未与保护层接触且未与基底接触之处。
依照本实用新型实施例所述,上述彩色滤光片设置于介电层中的高度不相同。彩色滤光片可分别设置于介电层中紧邻基底表面之处、紧邻保护层之处、和未与保护层接触且未与基底接触之处。
依照本实用新型实施例所述,上述彩色滤光片中至少有一者包括至少一第一彩色滤光片与一第二彩色滤光片,相互对应地分别设置于介电层中不同高度之处。
依照本实用新型实施例所述,上述图像传感器,可还包括一抗反射层,配置于基底与介电层之间。此外,还可包括多个微透镜,设置于保护层上,与光电二极管掺杂区相对应。
依照本实用新型实施例所述,上述介电层包括一内介电层与一金属层间介电层,且上述彩色滤光片位于内介电层中、位于金属层间介电层中或位于内介电层与金属层间介电层之间。
依照本实用新型实施例所述,上述彩色滤光片的材质为无机材料。
由于本实用新型图像传感器的彩色滤光片设置在保护层下方,因此,其可以提升光效能并且可减缓色干扰的现象。
为让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举优选实施例,并配合附图,作详细说明如下。
附图说明
图1是依照本实用新型一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图;
图2是依照本实用新型另一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图;
图3是依照本实用新型又一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图;
图4是依照本实用新型再一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图;
图5是依照本实用新型另一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图;
图6是依照本实用新型又一实施例所绘示的一种图像传感器的部分剖面示意图。
主要元件符号说明
10:图像传感器
100:基底
102:抗反射层
104:光电二极管掺杂区
106、106a、106b、106ba、106bb、106bc、106c:介电层
108、108a、108b、108ba、108bb、108c:彩色滤光片
110:保护层
112:微透镜
具体实施方式
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的