[实用新型]薄膜材料电/热/力耦合作用下性能测试系统无效
申请号: | 200620168832.5 | 申请日: | 2006-12-31 |
公开(公告)号: | CN201034898Y | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 张广平;张滨;于庆源 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N3/60 | 分类号: | G01N3/60;G01N33/00 |
代理公司: | 沈阳科苑专利商标代理有限公司 | 代理人: | 张志伟 |
地址: | 110016辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 材料 耦合 作用 性能 测试 系统 | ||
1.一种薄膜材料电/热/力耦合作用下性能的测试系统,其特征在于整个电/热/力耦合性能测试系统由三部分组成:
(1)样品加电部分,由电源、信号发生器和功率放大器组成,电源通过由信号发生器指挥的功率放大器与样品相连,负责给样品施加电流;
(2)与样品连接部分,由四个微动机械手和四个金属探针组成,金属探针被固定在微动机械手上,通过控制机械手的移动,使金属探针的针尖接触到待测样品的两端,两个微动机械手通过导线与功率放大器的两个端口相连;
(3)测试与分析部分,包括示波器以及与示波器相连的计算机,两个微动机械手通过导线与示波器的两个端口分别相连,负责进行数据分析与反馈控制,计算机将分析结果通过示波器传递给信号发生器,然后给样品施加修正后的电流。
2.按照权利要求1所述的薄膜材料电/热/力耦合作用下性能的测试系统,其特征在于:还包括实时观察部分,包括对样品进行实时观察与摄录像用的扫描电镜或高倍光学显微镜。
3.按照权利要求1所述的薄膜材料电/热/力耦合作用下性能的测试系统,其特征在于:金属探针的直径为1~5μm。
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