[实用新型]一种用于大型集装箱的χ、γ射线束流检测装置无效
申请号: | 200620172885.4 | 申请日: | 2006-12-30 |
公开(公告)号: | CN200993644Y | 公开(公告)日: | 2007-12-19 |
发明(设计)人: | 佟永骏;齐占奎;李荐民;刘耀红;张清军;罗平安 | 申请(专利权)人: | 清华同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N23/10 | 分类号: | G01N23/10;G01N23/04 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人: | 刘长威 |
地址: | 100084北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 大型 集装箱 射线 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种检测装置,特别涉及一种用于大型集装箱检查系统的χ、γ射线束流检测装置。
背景技术
在大型集装箱χ、γ射线检查设备中,由X射线束流或γ源、准直器、探测器三者组成χ、γ射线发射与检测系统。在检查设备调试过程中,需要对该系统进行三点一线的测量与调整,就是把χ、γ射线束流、准直缝和探测器的中心线调整在同一个平面上。现有技术中,通常采用光学(经纬仪)测量三点一线的方法,此方法只能对光学意义上的三点一线进行检测,无法直接确定肉眼看不见的χ、γ射线束流实际中心。为了充分获取系统的最佳信噪比,提高系统的各项技术指标,保证产品的性能,需要一个装置,能准确测量χ、γ射线的束流中心位置。
实用新型内容
(一)要解决的技术问题
本实用新型的目的是提供一种结构简单、便于操作、能够准确快速地测量出射线束流中心的位置的用于大型集装箱检查系统的χ、γ射线束流检测装置。
(二)技术方案
为了达到上述目的,本实用新型采取如下方案:
本实用新型的一种用于大型集装箱检查系统的χ、γ射线束流检测装置,包括探测器模块、探测器笔架,还包括固定支架、旋转支架、轴、轴套,其中,轴套固定在固定支架上,轴固定在旋转支架上,所述旋转支架通过轴与固定支架上的轴套紧密配合连接,所述固定支架固定在探测器笔架上。
其中,旋转支架(2)上的探测器模块的底面(6)与探测器笔架上的安装底面(7)共面。
其中,旋转支架设有绕轴顺时针旋转和逆时针旋转的刻度指示。
其中,旋转支架的旋转中心与探测器模块上的探测器线阵列的几何中心重合。
其中,所述轴套连接在固定支架上,其中心线位于探测器模块中探测器阵列的中心线上,所述轴的中心线位于探测器模块中探测器阵列的中心线上。
其中,旋转支架旋转的角度要使旋转后探测器阵列在垂直于射线束流扇面方向上的宽度大于射线束流扇面的宽度。
(三)有益效果
1)本实用新型通过安装在旋转支架上的探测器模块与固定支架的相对旋转,能够准确快速地测量出射线束流中心的位置;2)本实用新型结构简单,便于拆装,便于操作;3)本实用新型能随时进行工作,不受时间、地点、气候等各种因素限制。
附图说明
图1是本实用新型的用于检测χ、γ射线束流的总体结构图;
图2是本实用新型的探测器模块不旋转时的位置示意图;
图3是本实用新型旋转一个角度时探测器模块中各个探测器笔的位置示意图;
图4是本实用新型χ、γ射线束流检测装置的结构示意图;
图5是图4的俯视图。
图中:1.探测器模块;2.旋转支架;3.与探测器阵列几何中心线对应的基准线;4.轴;5.固定支架;6.旋转支架用于固定探测器模块的平面;7.固定支架的底面;8.加速器或放射源靶点;9.准直器;10射线束流扇面;11.探测器笔架;12.χ、γ射线束流检测装置;13.探测器笔;14.理想条件下的射线束流扇面的中心线;L.探测器笔之间的长度;θ.χ、γ射线束流检测装置旋转角度。
具体实施方式
以下实施例用于说明本实用新型,但不用来限制本实用新型的保护范围。
如图1、图3、图4所示,本实用新型实施时,在加速器或放射源靶点8、准直器9、探测器的基础上加装了χ、γ射线束流检测装置。该装置由两部分组成,其中,第一部分是固定支架5,它是针对探测器模块1安装尺寸固定专门设计的。在实际使用时直接像安装探测器模块1一样,代替该位置上的探测器模块1固定在探测器笔架11上。固定支架5上平行于底面连接一轴套,此轴套的中心线位于探测器模块1中探测器阵列的中心线上。
第二部分是旋转支架2,旋转支架2上安装一根轴4,此轴4中心线平行于它上面固定探测器模块1的平面,此轴4的中心线位于探测器模块1中探测器阵列的中心线上。该旋转支架2上有一个探测器模块1的安装底面,在不旋转时,该探测器模块1的安装底面,实际上就是原探测器笔架11上探测器模块1安装底面的向外延伸面。
第一部分和第二部分是通过轴4和轴套来紧密配合的,第二部分可以绕轴4旋转,顺时针或逆时针旋转均有刻度指示。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于清华同方威视技术股份有限公司,未经清华同方威视技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200620172885.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种10P 7/5颜料的组合物及用此组合物制备的实物色块
- 下一篇:压力曲筛