[发明专利]电子元器件测试设备无效
| 申请号： | 200680000900.X | 申请日： | 2006-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN101031808A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 浅野功;丹国广 | 申请（专利权）人： | 株式会社理光 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H05K13/08 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王冉;王景刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电子元器件 测试 设备 | ||
【说明书】：
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