[发明专利]颗粒分级设备以及含有由该设备所分级的颗粒的粘合剂无效
申请号: | 200680001105.2 | 申请日: | 2006-09-22 |
公开(公告)号: | CN101052477A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 小山惠司;桑原铁也;芳贺优;柏原秀树 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | B07C5/10 | 分类号: | B07C5/10;B01F11/02;B03C1/00;B03C1/26;C09J9/02;C09J201/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 王冉;魏晓刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 颗粒 分级 设备 以及 含有 粘合剂 | ||
1.一种颗粒分级设备,用于根据每个导电细颗粒的长度对每个都呈针形的多个导电细颗粒进行分级,其特征在于包括
分散装置,其用于将所述许多导电细颗粒分散;
颗粒定向装置,包括用于使已分散的导电细颗粒通过的流道,所述流道用于在通过所述流道时沿每个导电细颗粒的转移方向对分散的各个导电细颗粒定向,并同时沿着该转移方向使导电细颗粒相互间隔开;
颗粒长度测量装置,其用于测量通过输送部时沿所述转移方向定向和间隔的各个导电细颗粒的长度;以及
颗粒分离装置,其用于基于有关测量的导电细颗粒长度的数据将具有预定长度的导电细颗粒从分散的导电细颗粒中分离,其中:
所述输送部将所述颗粒定向装置的流道连接至所述颗粒分离装置,当所述导电细颗粒通过所述输送部时,所述颗粒长度测量装置测量每个导电细颗粒的长度。
2.如权利要求1所述的颗粒分级设备,其特征在于,分散装置用超声波进行分散。
3.如权利要求1所述的颗粒分级设备,其特征在于,颗粒长度测量装置包括:
照明单元,其用于发出光线,以照亮所述导电细颗粒;
图像捕捉单元,其用于捕捉由所述导电细颗粒所反射的光线的图像;以及
计算处理器,其基于图像捕捉单元所捕捉的图像来计算所述导电细颗粒的长度。
4.如权利要求1所述的颗粒分级设备,其特征在于,
颗粒分离装置包括分离器和控制装置,该分离器用于将预定长度的导电细颗粒从分散的导电细颗粒中分离,该控制装置基于有关测量的导电细颗粒的长度的数据来控制分离器;以及
控制装置确定测量的导电细颗粒的长度是否是预定长度,并基于确定结果来控制分离器,从而将预定长度的导电细颗粒从分散的导电细颗粒中分离。
5.如权利要求1所述的颗粒分级设备,其特征在于包括:
再处理装置,其用于将除了具有预定长度并由颗粒分离装置所分离的导电细颗粒之外的导电细颗粒从颗粒分离装置供给到分散装置。
6.如权利要求5所述的颗粒分级设备,其特征在于,所述再处理装置包括:
用于连接所述颗粒分离装置和所述分散装置的输送部;
连接至所述输送部的过滤器;以及
抽吸装置,连接至所述过滤器,用于通过所述过滤器吸入输送至所述输送部的导电细颗粒。
7.一种各向异性的导电粘合剂,其含有如权利要求1至5之一所述的颗粒分级设备所分级的具有预定长度的颗粒,其特征在于,所述颗粒是针形的导电细颗粒。
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