[发明专利]半导体器件有效
申请号: | 200680002320.4 | 申请日: | 2006-09-21 |
公开(公告)号: | CN101103455A | 公开(公告)日: | 2008-01-09 |
发明(设计)人: | 山下公彦;桥本泰典 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | H01L21/822 | 分类号: | H01L21/822;H01L21/768;H01L21/82;H01L23/522;H01L27/04 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 王冉;王景刚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 | ||
1、一种半导体器件,包括:
下层侧绝缘膜;
形成于下层侧绝缘膜上的布线图案;
形成于下层侧绝缘膜和布线图案上的基绝缘膜;和
形成于基绝缘膜上的多个金属薄膜电阻元件;
其中连接孔形成于布线图案上的基绝缘膜中;
布线图案和金属薄膜电阻元件在连接孔中电连接;
金属薄膜电阻元件具有与连接孔分离设置的带状部和与带状部连续形成并连接到连接孔中的布线图案的连接部;以及
至少两个金属薄膜电阻元件的连接部分形成于单个连接孔中,在所述连接部之间具有间隙。
2、根据权利要求1所述的半导体器件,其中所述连接部比带状部宽。
3、根据权利要求1所述的半导体器件,其中在所述连接孔中相邻的连接部之间的间隙比相邻的带状部之间的间隙窄。
4、根据权利要求2所述的半导体器件,其中在所述连接孔中相邻的连接部之间的间隙比相邻的带状部之间的间隙窄。
5、根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第一连接部,第一连接部被配置以连接在连接孔中相邻的连接部。
6、根据权利要求2所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第一连接部,第一连接部被配置以连接在连接孔中相邻的连接部。
7、根据权利要求3所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第一连接部,第一连接部被配置以连接在连接孔中相邻的连接部。
8、根据权利要求1所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第二连接部,第二连接部被配置以在相对于连接孔与带状部相对侧,连接在连接孔之外相邻的连接部。
9、根据权利要求2所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第二连接部,第二连接部被配置以在相对于连接孔与带状部相对侧,连接在连接孔之外相邻的连接部。
10、根据权利要求3所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第二连接部,第二连接部被配置以在相对于连接孔与带状部相对侧,连接在连接孔之外相邻的连接部。
11、根据权利要求5所述的半导体器件,还包括:
由其材料与金属薄膜电阻元件的材料相同的金属薄膜制成的第二连接部,第二连接部被配置以在相对于连接孔与带状部相对侧,连接在连接孔之外相邻的连接部。
12、一种半导体器件,包括:
分割电阻电路,其通过采用多个电阻元件分割电压输出并通过切割熔丝元件来调整电压输出,从而被配置来获得电压输出的高精确度;
其中所述电阻元件由权利要求1所述的金属薄膜电阻元件形成。
13、一种半导体器件,包括:
分割电阻电路,其通过采用多个电阻元件分割电压输出并通过切割熔丝元件来调整电压输出,从而被配置来获得电压输出的高精确度;
其中所述电阻元件由权利要求2所述的金属薄膜电阻元件形成。
14、一种半导体器件,包括:
分割电阻电路,其通过采用多个电阻元件分割电压输出并通过切割熔丝元件来调整电压输出,从而被配置来获得电压输出的高精确度;
其中所述电阻元件由权利要求3所述的金属薄膜电阻元件形成。
15、一种半导体器件,包括:
分割电阻电路,其通过采用多个电阻元件分割电压输出并通过切割熔丝元件来调整电压输出,从而被配置来获得电压输出的高精确度;
其中所述电阻元件由权利要求5所述的金属薄膜电阻元件形成。
16、一种半导体器件,包括:
分割电阻电路,其通过采用多个电阻元件分割电压输出并通过切割熔丝元件来调整电压输出,从而被配置来获得电压输出的高精确度;
其中所述电阻元件由权利要求8所述的金属薄膜电阻元件形成。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造