[发明专利]测量涂覆量的方法和预测溶出行为的方法

说明书

技术领域

本发明涉及在颗粒、片剂等上施用涂覆液时测量涂覆量的方法，该测量使用已涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射进行，还涉及根据通过上述方法测得的涂覆量预测药理有效成分从颗粒等中溶出的行为的方法。

背景技术

可以在口服制剂(例如颗粒或片剂)上施用各种单层或多层涂覆物，以用于例如保质、掩味、或控制溶出性能，例如肠溶行为、缓释行为。这些涂覆物通常通过薄膜涂覆、粉末涂覆或压涂的方法施用。由于涂覆物的量的轻微差别会影响例如制剂的特性、质量等，从质量管理角度看，必须对涂覆对象(例如颗粒或未涂覆片剂)上的涂覆物的量进行相当严格的控制。

此前用于测量涂覆量的方法包括由涂覆工艺之前和之后获取的制剂平均重量测定涂覆量。

溶出行为的评测通常以使用例如真实片剂的溶出试验或崩解试验的形式进行。这些评测方法是破坏性试验，不能在所有试验材料上进行。例如，Martin等人的论文(非专利参考文献1)和Peter等人的论文(非专利参考文献2)提到了克服这些问题的技术。非专利参考文献1涉及一种在线方法，使用近红外光谱测量施用在丸片上的涂层厚度。非专利参考文献2公开的结果表明，有可能能够通过近红外光谱测量预测卡马西平药片的溶出行为。

非专利参考文献1

Martin Andersson等人，“Quantitative Analysis of Film Coating in aFluidized Bed Process by In-Line NIR Spectrometry and MultivariateBatch Calibration”Anal.Chem.2000，72，2099-2108。

非专利参考文献2

Peter N.Zannikos等人，“Spectrophotometric Prediction of theDissolution Rate of Carbamazepine Tablets”Pharmaceutical Research，1991，8，974-978。

发明内容

由涂覆工艺之前和之后获取的制剂平均重量测定涂覆量的方法在已经收集测量样品之后进行测量，因此不能在生产过程中测量涂覆量的实时变化。此外，药品使用多种成分，而不仅是药物成分本身，且来自各种成分的吸收在观察分子振动(例如C-H、N-H和O-H)的吸收的近红外区域中交迭。因此，使用近红外光谱的评测方法通常具有低的特异性，特别在痕量成分的评测中遇到困难。因此，尽管有一些使用近红外光谱测量法评测涂覆量和预测溶出行为的报道(非专利参考文献1和2)，但这没有发展成用于检测涂覆量的通用技术。非专利参考文献1的技术实际上使用近红外区域的长波长区域(1100至2500纳米)中的近红外线作为其测量波长。该波长区域内的吸收的强度强于在低波长区域内(400至1100纳米)。但是，由于这是紧邻基本振动的区域，它们很有可能与多种振动的综合频和一级和二级倍频交迭。因此产生了特异性差的问题。在非专利参考文献2中仍使用近红外的长波长区域(1100至2500纳米)，该报道也限于使用卡马西平药片作为测量对象。

为了解决上述问题，本申请的发明人进行了深入和广泛的研究，意外发现，通过使用例如被涂覆液(该涂覆液含有例如聚乙二醇和/或含长链烃基的化合物)涂覆的颗粒或片剂的近红外光谱的800至1100纳米波长区域进行测量，可以非常精确地测量涂覆量，且几乎不受由于基于其它成分的峰产生的干扰的影响。

本发明提供了测量施用到涂覆对象上的涂覆物的量的方法，该方法基于通过测量涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射而得的测量值。

本发明还提供了预测药理有效成分从涂覆对象中溶出的行为的方法，该方法基于通过上述涂覆物的量测量法获得的涂覆物的量。

本发明进一步提供了测量施用到涂覆对象上的涂覆物的量的方法，该方法基于涂在涂覆对象上的添加剂在800至1100纳米波长范围内的光吸收或散射。

发明详述