[发明专利]用于X射线投影的校正或扩展的设备和方法无效

专利信息
申请号: 200680003751.2 申请日: 2006-01-31
公开(公告)号: CN101111758A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: M·伯特拉姆;J·韦格特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G06T11/00;A61B6/03
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 龚海军;刘红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 用于 射线 投影 校正 扩展 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种用于为了产生对象(1)的重建图像而对所述对象的X射线投影(10)的数据组进行迭代散射校正的设备,包括:

模型估计单元(41),用于通过迭代优化前向投影对于相应X射线投影的偏差来估计用于所述对象的对象模型的模型参数,所述前向投影通过使用所述对象模型和对于所述X射线投影的几何结构参数来计算,

散射估计单元(42),用于通过使用所述对象模型来估计在所述X射线投影中存在的散射量,以及

校正单元(43),用于通过从所述X射线投影中减去估计的散射量来校正所述X射线投影,以使用所述校正的X射线投影来确定优化的对象模型,所述优化的对象模型用于所述散射校正的另一个迭代中,所述散射校正被迭代执行直到达到了预定的停止标准。

2.如权利要求1所述的设备,其中所述模型估计单元(41)适于使用在所述散射校正的前一个迭代中确定的散射校正的投影来确定模型的优化模型参数。

3.如权利要求1所述的设备,其中所述散射估计单元(42)适于通过使用Monte-Carlo仿真来估计在所述X射线投影中存在的散射量。

4.如权利要求3所述的设备,其中所述散射估计单元(42)适于使用强制探测方法来在线执行Monte-Carlo仿真,以用于确定在所述X射线投影中的散射量。

5.如权利要求3所述的设备,其中所述散射估计单元(42)适于通过使用包含针对模型参数的不同值的散射量的查找表来估计散射量。

6.如权利要求1所述的设备,其中所述停止标准是预定数量的迭代,对于所述散射估计量与在随后迭代中的所述X射线投影的的差值的预定最小值,或者对于在随后迭代中获得的模型参数的差值的预定最小值。

7.一种用于为了产生对象(1)的重建图像而对所述对象的X射线投影(10)的数据组的已截断X射线投影进行扩展的设备,包括:

模型估计单元(61),用于通过迭代优化前向投影对于相应X射线投影的偏差来估计用于所述对象的对象模型的模型参数,所述的前向投影通过使用所述对象模型和用于所述X射线投影的几何结构参数来计算,

截断估计单元(62),用于通过使用所述对象模型来估计在所述X射线投影中存在的截断度,以及

校正单元(63),用于通过使用所述估计的截断度扩展所述X射线投影来校正所述X射线投影。

8.如权利要求7所述的设备,其中所述截断估计单元(62)适于通过确定该估计对象模型的未截断前向投影的空间范围并将这个范围与所述X射线投影的空间范围进行比较来估计所述截断度。

9.如权利要求7所述的设备,其中所述校正单元(63)适于通过使用估计的扩展因子或使用所述截断估计而估计的估计对象边界平滑所述X射线投影的延续,来扩展所述X射线投影。

10.如权利要求1或7所述的设备,其中所述模型估计单元(41;61)适于通过迭代最小化前向投影对于相应X射线投影的最小均方偏差来估计所述对象模型的所述模型参数。

11.如权利要求1或7所述的设备,其中所述模型参数包括所述对象模型的几何参数,特别是定义所述对象模型的位置、方向和/或大小的参数。

12.如权利要求1或7所述的设备,其中所述模型参数包括至少一个定义所述对象模型的X射线衰减的衰减参数。

13.如权利要求1或7所述的设备,其中所述模型估计单元(41;61)适于仅使用用于所述估计的X射线投影的可用探测器像素的子集,其中不同的子集用于不同的X射线投影。

14.一种用于为了产生对象(1)的重建图像而对所述对象的X射线投影(10)的数据组进行迭代散射校正的方法,包括以下步骤:

通过迭代优化前向投影对于相应X射线投影的偏差来估计用于所述对象的对象模型的模型参数,所述前向投影通过使用所述对象模型和用于所述X射线投影的几何结构参数来计算,

通过使用所述对象模型来估计在所述X射线投影中存在的散射量,以及

通过从所述X射线投影中减去估计的散射量来校正所述X射线投影,以使用所述校正的X射线投影来确定优化的对象模型,所述优化的对象模型用于所述散射校正的另一个迭代中,所述散射校正被迭代执行直到达到了预定的停止标准。

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