[发明专利]可测试电子电路

权利要求书

1.一种可测试电子电路，包括

-多个数据端(11a-c)；

-功能电路(10)；

-多个触发器组(12a-c)，连接到数据端(11a-c)以及功能电路(10)，每个触发器组具有用于向该组(12a-c)的触发器提供时钟的时钟输入端，每个组可在移位配置和功能配置之间进行切换，以从数据端(11a-c)串行地移入测试数据，而且并行地用于分别将信号提供给功能电路(10)和/或分别从功能电路(10)接收信号；

-测试控制电路(16)，可以在功能模式、测试移位模式和测试正常模式之间切换，所述测试控制电路(11)连接到触发器组(12a-c)，以在功能模式下将所述组切换到功能配置，以及在测试移位模式下将所述组切换到移位配置；

-时钟多路复用电路(15a-c、18)，具有连接到数据端(11a-c)的输入端，以及连接到组(12a-c)的时钟输入端的输出端，根据测试控制电路(16)所采取的模式，连接所述测试控制电路(16)以控制时钟多路复用电路(15a-c、18)，时钟多路复用电路(15a-c、18)被设置为：在测试正常模式下，在各个组(12a-c)的时钟输入端处，暂时代入来自各个数据端(11a-c)的时钟信号。

2.如权利要求1所述的可测试电子电路，包括连接到时钟多路复用电路(15a-c、18)的测试时钟端(17a)，时钟多路复用电路(15a-c、18)被设置为：在测试移位模式下，把来自测试时钟端(17a)的测试时钟信号提供给组(12a-c)的时钟输入端。

3.如权利要求2所述的可测试电子电路，包括连接到时钟多路复用电路(15a-c、18)的多个时钟电路(14a-c)，时钟多路复用电路(15a-c、18)被设置为：在功能模式下，把来自各个时钟电路(14a-c)的时钟信号提供给各个组(12a-c)的时钟输入端。

4.一种测试电子电路的方法，所述方法包括：

-将电子电路切换到测试模式；

-通过电子电路的多个数据端(11a-c)移入测试数据；

-通过多个触发器组(12a-c)，串行地将测试数据进行移位；

-把来自测试时钟的测试时钟信号路由到触发器组(12a-c)的时序控制输入端，以控制所述移位的时序；

-在测试正常时间间隔期间，改变时钟路由，以将各个数据端(11a-c)连接到各个组(12a-c)的时序控制输入端；

-在时钟路由已经改变时，向数据端(11a-c)提供时钟脉冲；

-使用在来自数据端的时钟脉冲的时序的控制下的时序，捕获触发器组(12a-c)中的测试结果。

5.如权利要求4所述的测试方法，其中，当时钟路由已经改变时，数据端(11a-c)中至少两个端子上的时钟脉冲具有互不相同的时序图样。

6.如权利要求4所述的测试方法，其中，

-将第一测试数据值从组(12a-c)移位到第一触发器，将不同于第一测试数据值的第二测试数据至从组(12a-c)移位到第二触发器；

-当时钟路由已经改变时，将至少第一和第二时钟脉冲施加到数据端(11a-c)中至少一个，第一时钟脉冲时序将第二测试数据值从第二触发器拷贝到第一触发器，而且第二时钟脉冲时序将功能电路对第一触发器的输出信号的响应加载到另一个触发器中。

7.如权利要求4所述的测试方法，其中，所述电子电路被设置为，在正常功能操作期间，将时钟信号从各个时钟电路(14a-c)路由到各个组(12a-c)，所述方法包括改变时钟路由，以在进入测试移位模式之前将测试时钟信号馈入所述组。

8.如权利要求7所述的测试方法，其中，在测试移位模式下，组(12a-c)中的每一个接收相同的测试时钟信号。

9.一种包括如权利要求1所述的电子电路以及与该电子电路(30)的数据端(11a-c)相连的测试图样提供设备(32)的测试系统，其中，测试提供设备(32)被编程为：当测试控制电路(16)已经进入捕获模式时，向数据端(11a-c)提供具有已编程的时序图样的脉冲。

10.一种测试器(32)，包括用于向测试中的电子电路(30)提供测试数据的输出端，所述测试器(32)被设置为向数据端(11a-c)提供可编程地定义的测试数据，而且在使测试中的电子电路(30)进入用于捕获测试结果图样的测试正常状态后，向数据端(11a-c)提供具有可编程地定义的时序图样的各个时钟脉冲。