[发明专利]利用多个频率空间上解释电磁数据的方法有效
申请号: | 200680006482.5 | 申请日: | 2006-02-23 |
公开(公告)号: | CN101194184A | 公开(公告)日: | 2008-06-04 |
发明(设计)人: | O·M·布尔兹;J·J·卡拉左尼;D·A·帕福洛夫 | 申请(专利权)人: | 埃克森美孚上游研究公司 |
主分类号: | G01V3/00 | 分类号: | G01V3/00;G01V7/00;G01F19/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 频率 空间 解释 电磁 数据 方法 | ||
1.一种数据处理方法,其用于降低在地面下区域电磁勘测中浅层电阻率结构的掩蔽效应,所述方法包括:
(a)选择在第一源频率生成的第一勘测数据组,所述第一源频率被选择为只穿透所述浅层电阻率结构;
(b)选择对应于低于所述第一源频率的第二源频率的第二勘测数据组,从而揭示所述地面下区域的较深电阻率结构以及所述浅层电阻率结构;
(c)通过利用所述第一源频率生成的勘测数据组来求解电磁场方程组,计算所述浅层电阻率结构;和
(d)利用计算出的浅层电阻率结构和来自第二勘测的电磁数据,以从较深响应中区分浅层响应;
2.如权利要求1所述的方法,其中所述浅层电阻率结构预测如下:
(a)假定一个初始浅层电阻率结构;
(b)利用电磁场方程和假定的浅层电阻率结构为所述第一源频率的所述勘测计算理论电磁响应;
(c)将计算出的响应和所述第一勘测数据组比较;和
(d)调整所述假定的浅层电阻率结构,按需要重复步骤(b)-(d),直到所述计算出的响应与所述第一勘测数据组在预选择公差内一致。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述浅层响应通过如下方法从所述较深响应中区分开:
(a)利用电磁场方程和所述计算出的浅层电阻率结构为所述第二源频率的勘测计算理论电磁响应;和
(b)将所述计算出的电磁响应和所述第二勘测数据组比较,以移除由所述浅层电阻率结构引起的对所述第二勘测数据组的影响。
4.如权利要求2所述的方法,其中所述初始浅层电阻率结构通过将所述电阻率结构与来自地震反射、折射或发射数据所识别的地质结构联合,之后通过相互关联地震阻抗估算地震辨别结构中的电阻率值,从地震数据解释获得。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述浅层电阻率结构通过如下方法预测:在所述第一源频率反转电磁波方程组以求解电阻率结构,该电阻率结构与来自所述第一勘测的获得参数和电磁数据组相对应。
6.如权利要求1所述的方法,进一步包括利用所述计算出的浅层电阻率结构和估算出的较深电阻率结构,为所述地面下区域计算依赖深度的电阻率结构;所述依赖深度的电阻率结构包含与所述第一和第二源频率的趋肤深度相对应的至少两个深度地域。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述依赖深度的电阻率结构的计算包括:
(a)采用所述计算出的浅层电阻率结构,并用估算出的较深电阻率结构补充该电阻率模型,以生成覆盖浅层和较深区域的假定的电阻率模型;
(b)利用所述电磁场方程组和所述假定的电阻率模型,计算在所述第二源频率的勘测的理论电磁响应;
(c)将所述计算出的响应与所述第二勘测数据比较;和
(d)调整所述假定的电阻率模型,根据需要重复步骤(b)-(d),直到所述计算出的响应与所述第二勘测数据组在预选择公差内一致。
8.如权利要求6所述的方法,其中所述估算出的较深电阻率结构通过将所述电阻率结构与从地震反射、折射或发射数据所识别的地质结构联合,之后通过相互关联地震阻抗估算而在地震识别结构中的电阻率值,从地震数据解释获得。
9.如权利要求6所述的方法,其中所述依赖于深度的电阻率结构以如下方法计算出:在所述第二源频率反转电磁波方程组,以求解电阻率结构,所述电阻率结构与来自所述第二勘测的获得参数和所述电磁数据组相对应。
10.如权利要求6所述的方法,进一步包括选择与第三源频率相对应的第三勘测数据组,向所述计算出的依赖于深度的电阻率结构增加第三深度地域,从而改进地面下电阻率结构的深度分辨率。
11.如权利要求10所述的方法,进一步包括重复所描述处理进程以增加至少一个额外深度区域。
12.如权利要求3所述的方法,其中通过利用所述计算出的浅层电磁响应将所述浅层电阻率结构影响从所述第二勘测数据组移除,以逐个位置标定所述第二勘测数据组。
13.如权利要求12所述的方法,其中标定的第二勘测数据组与侧面位置对比在图上画出,利用彩色定标来代表标定数据。
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