[发明专利]用于制造薄层结构的方法无效

专利信息
申请号: 200680006541.9 申请日: 2006-02-13
公开(公告)号: CN101133461A 公开(公告)日: 2008-02-27
发明(设计)人: 福尔克尔·莱曼 申请(专利权)人: 奇梦达股份公司
主分类号: G21K1/02 分类号: G21K1/02;B81C1/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;吴贵明
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 制造 薄层 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种用于制造薄层结构的方法,

其中,在具有大量没有贯穿衬底层的整个厚度的孔(301)的、大孔的支承结构衬底(300)中,在所述支承结构衬底(300)的孔壁(302)的表面和孔底部(305)的表面涂覆牺牲层(303),

其中,接下来,在背面部分地去除所述支承结构衬底(300),从而在所述支承结构衬底(300)的所述背面上暴露出所述牺牲层(303)的区域,

其中,在所述支承结构衬底(300)的所述背侧面上以及在所述牺牲层(303)被暴露出来的所述区域上涂覆薄层(306),

其中,相对于所述薄层(306)选择性地将所述孔中的所述牺牲层(303)去除,从而由所述薄层(306)构成所述孔底部(305)。

2.根据权利要求1所述的方法,

其中,通过热氧化所述孔壁(302)和所述孔底部(305)而构成所述牺牲层(303)。

3.根据权利要求1所述的方法,

其中,通过化学气相沉积法将所述牺牲层(303)涂覆到所述支承结构衬底(300)的所述孔壁(302)和所述孔底部(305)上。

4.根据权利要求3所述的方法,

其中,通过原子层外延法将所述牺牲层(303)涂覆到所述支承结构衬底(300)的所述孔壁(302)和所述孔底部(305)上。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,

其中,由硅材料制成所述支承结构衬底(300)。

6.根据权利要求5所述的方法,

其中,可以涂覆二氧化硅层作为所述牺牲层(303),特别是通过热氧化将所述牺牲层涂覆到所述支承结构衬底(300)的所述孔壁(302)和所述孔底部(305)上。

7.根据权利要求5所述的方法,

其中,可以涂覆氮化硅层作为所述牺牲层(303),特别是通过CVD方法将所述牺牲层涂覆到所述支承结构衬底(300)的所述孔壁(302)和所述孔底部(305)上。

8.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,

其中,由铝材料制成所述支承结构衬底(300)。

9.根据权利要求8所述的方法,

其中,所述牺牲层(303)是氧化铝层,通过ALD方法将所述氧化铝层涂覆到所述支承结构衬底(300)的所述孔壁(302)和所述孔底部(305)上。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法,

其中,通过使用回蚀法在背面部分地去除所述支承结构衬底(300)。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的方法,

其中,通过溅射法或蒸镀法或等离子CVD法涂覆所述薄层(306)。

12.根据权利要求11所述的方法,

其中,涂覆金刚石薄层作为所述薄层(306)。

13.根据权利要求11所述的方法,

其中,涂覆金属薄层作为所述薄层(306)。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的方法,

其中,涂覆具有很多部分薄层的层序列作为所述薄层(306)。

15.根据权利要求1至14中任一项所述的方法,

其中,通过蚀刻选择性地去除所述牺牲层(303)。

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