[发明专利]用于确定用于在光学记录载体上记录数据的写策略参数以及用于确定用于从光学记录载体读出数据的读参数的装置和方法

权利要求书

1.用于确定用于在光学记录载体(100)上记录数据的写策略参数的装置，包括：

-初始化装置(110)，用于设置初始写策略参数，

-设置装置(120)，用于基于所述初始写策略参数的变化来设置初始变量级别和初始实验方案，用于优化所述写策略参数的实验方法的设计，

-优化装置(130)，用于利用实验方法的设计确定优化的写策略参数，以及

-迭代装置(140)，用于基于预定标准来检查由优化装置(130)所确定的优化的写策略参数是否将被进一步优化，在写策略参数将被进一步优化的情况下，用于确定在进一步优化所述写策略参数的实验方法的设计的另一个迭代中使用的新的变量级别和新的实验方案。

2.如权利要求1所述的装置，

其中所述优化装置(130)包括：

-测试记录装置(131)，其利用在由实验方法的设计所使用的变量级别和实验方案中设置的所述初始写策略参数的变化，在所述记录载体(100)上执行测试记录预定的次数，

-测量装置(132)，用于对于每个测试记录测量指示所述测试记录的记录质量的质量参数的质量参数值，以及

-确定装置(133)，用于通过评估所测量的对于所述测试记录的质量参数值来确定优化的写策略参数。

3.确定用于从光学记录载体(100)再现数据的读参数的装置，包括：

-初始化装置(110)，用于设置初始读参数，

-设置装置(120)，用于基于所述初始读参数的变化来设置初始变量级别和初始实验方案，用于优化所述读参数的实验方法的设计，

-优化装置(130)，用于利用实验方法的设计确定优化的读参数，以及

-迭代装置(140)，用于基于预定标准来检查由优化装置(130)所确定的优化的读参数是否将被进一步优化，以及在读参数将被进一步优化的情况下，用于确定在进一步优化所述读参数的实验方法的设计的另一个迭代中使用的新的变量级别和新的实验方案。

4.如权利要求3所述的装置，

其中所述优化装置(130)包括：

-测试读取装置(131)，用于利用在由实验方法的设计所使用的变量级别和实验方案中所设置的所述初始读参数的变化，执行从所述记录载体(100)的测试读取或测试记录载体预定的次数，

-测量装置(132)，用于对于每个测试读取测量指示所述测试读取的质量参数的质量参数值，以及

-确定装置(133)，用于通过评估所测量的对于所述测试读取的质量参数值来确定优化的读参数。

5.如权利要求2或4所述的装置，

其中所述确定装置(133)适于利用模型特别是二阶模型且通过确定所述模型的最佳值特别是最小值来确定优化的参数。

6.如权利要求2或4所述的装置，

其中所述测量装置(132)适于将抖动、块错误率或位错误率用作质量参数，并适于在每个测试记录和测试读取之后分别测量抖动值。

7.如权利要求1所述的装置，其中所述设置装置(120)适于在所述实验方法的设计中使用的所述实验方案中设置实验的预定数目，尤其是9+4·n个实验，其中n＝0，1，2……。

8.如权利要求7所述的装置，

其中所述设置装置(120)适于将在所述实验方法的设计中使用的所述实验方案中设置13个实验。

9.如权利要求1所述的装置，

其中所述设置装置(120)适于基于所述初始参数的预定数目的变化，特别是两个所述初始参数的变化，来设置所述初始变量级别和所述初始实验方案。

10.如权利要求1所述的装置，

其中所述迭代装置(140)适于在用于检查优化参数是否将被进一步优化的预定标准中使用由所述优化装置(130)确定优化参数所用的模型的一个或多个系数值，所述预定标准包括对于所述系数值的阈值。

11.如权利要求1所述的装置，

其中所述迭代装置(140)适于基于由所述优化装置(130)确定优化参数所用的模型的一个或多个系数值来确定新的变量级别和新的实验方案。