[发明专利]具有像素内处理电路的X射线检测器有效
申请号: | 200680008325.8 | 申请日: | 2006-03-10 |
公开(公告)号: | CN101142497A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | G·泽特勒;G·沃格特-迈耶 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 龚海军;刘红 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 像素 处理 电路 射线 检测器 | ||
1.一种X射线检测器(100,200,300),包括:
a)具有至少一个检测器元件的敏感层(13,33,53),包括光敏传感器单元(14,34,54),和易受X射线干扰的处理电路(15a,15b,35a,35b,55);
b)将入射X射线(X)转化为光子(λ1,λ2)的闪烁层(11,31,51);
c)置于闪烁层(11,31,51)和敏感层(13,33,53)之间的耦合层,耦合层适合于将光从闪烁层(11,31,51)引向传感器单元(14,34,54)并保护处理电路(15a,15b,35a,35b,55)不受X射线的影响。
2.根据权利要求1的X射线检测器(100,200),其特征在于所述耦合层(12,32)包括至少一个将光从闪烁层(11,31)引向传感器单元(14,34)的光导单元(17,37)以及至少一个保护处理电路(15a,15b,35a,35b)不受X射线影响的屏蔽单元(16,36)。
3.根据权利要求2的X射线检测器(100,200),其特征在于光导单元(17,37)朝向闪烁层(11,31)的面积比其朝向传感器单元(14,34)的面积大。
4.根据权利要求2的X射线检测器(100,200),其特征在于屏蔽单元(16,36)的横截面在朝向闪烁层(11,31)的指向上逐渐变细,特别为三角形横截面。
5.根据权利要求2的X射线检测器(100,200),其特征在于所述屏蔽单元(16,36)围绕光导单元(17,37)。
6.根据权利要求2的X射线检测器(100,200),其特征在于光导单元(17,37)包括聚合物,特别是PMMA,和/或胶和/或铅玻璃和/或如SU8光致抗蚀剂的材料。
7.根据权利要求2的X射线检测器(100,200),其特征在于光导单元(17,37)和屏蔽单元(16,36)之间的界面包括反射材料例如二氧化钛。
8.根据权利要求1的X射线检测器(100,200,300),其特征在于所述耦合层(52)包括透光并高度吸收X射线的材料。
9.根据权利要求8的X射线检测器(100,200,300),其特征在于所述耦合层(52)包括铅玻璃和/或氟化铅。
10.根据权利要求1的X射线检测器(100,200,300),其特征在于所述耦合层(12,32,52)包括至少一种波长变换材料,其适合于吸收第一波长(λ1)的光子并在第二波长(λ2)重新发射光子。
11.根据权利要求10的X射线检测器(100,200,300),其特征在于波长变换材料包括荧光染料,特别是Y11、O2、R3、EJ280、EJ284、POPOP、bis-MSB、SrGa2S4:Eu、ZnS:Cu、Au或者YaG:Ce。
12.根据权利要求1的X射线检测器(100,200,300),其特征在于所述荧光层(11,31,51)被细分为闪烁元件(18,38,58),其每一个与敏感层(13,33,53)中的检测器元件相关,并由反射界面(20,40,60)和相邻的闪烁元件分开。
13.一种制造根据权利要求1到12其中之一的X射线检测器(100,200,300)的方法,包括下面的步骤
a)将光导材料的板连接至闪烁体板;
b)将光导材料和闪烁体板所获得的组合构造为闪烁体元件。
14.一种具有根据权利要求1到12其中之一的检测器的医疗成像设备。
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