[发明专利]RFID应用测试系统和方法

说明书

技术领域

【0001】本申请主张于2005年3月14日提交的美国临时专利申请第60/661,412号题为“RFID Application Test Systems and Methods”的权益，该申请作为参考被并入本文。

【0002】本发明一般涉及射频识别(RFID)应用，更具体地涉及射频识别装置的应用和测试。

背景技术

【0003】射频识别(RFID)装置(例如RFID标签、RFID标记、RFID芯片或者RFID嵌体)被越来越多地应用于广泛各个应用领域。例如，RFID装置常被用于零售产品识别和跟踪(例如，贴在零售产品的包装上以便物流管理)。

【0004】将RFID装置应用于，例如零售产品的包装的责任，已经越来越多被供应商所承担，而供应商应用RFID装置的过程称为附加源标签。然而，一个主要供应商可能有成千上万个不同的产品，每一个都需要具有一个合适的RFID装置和确定的安装位置，而且这个过程可能不得不随着产品或包装的改变而反复进行。

【0005】一般地，RFID装置的天线可被视作具有一个近场区域和一个远场区域。近场区域是指一个电抗性近场(例如大约R≤λ/2π)和辐射近场(例如大约R＜2D²/λ)，而远场区域是指一个辐射远场分量(例如R＞2D²/λ)，其中R是指与天线的距离，D是天线的最大尺寸。RFID装置的近程测试通常包括近场区域内的测试，而远程测试则通常包括远场区域内的测试。

【0006】对于供应商，为提供所需要的RFID业务，通常很困难并且/或者需要花费很多时间来决定合适的RFID装置和RFID装置在零售产品上的最佳安装位置。例如，位置的确定可包括将RFID装置安装在零售产品包装上的位置和对RFID装置进行相关的远程测试(例如，在一定的距离，以一定的RFID读卡器功率级，RFID装置的自由空间辐射测试)来确定RFID装置在该位置的性能。这种方法很耗费时间，因为RFID装置必须重复安装、测试、然后移除，并重新安装在另一位置用于后续测试，以确定最佳的相对位置。

【0007】另外，远程测试在执行时必须很小心以获得精确的结果并避免曲解的结果。例如，可能由于测试环境(例如，来自在同一地点的其他RFID读卡器系统的干扰)或者由于有缺陷的测试设置(例如，当RFID读卡器和RFID装置之间的路径附近存在物体，例如正在进行测试的操作员，都会引起影响标签性能的反射)而受到不利的影响。因此，需要一种改进的方法，用于高效评估特殊RFID装置的性能以及其在物品(例如产品或包装物)上的最优安装位置。

发明内容

【0008】在此公开的系统和方法用于为射频识别(RFID)装置的应用提供位置确定(例如，将与RFID装置关联的物品上不同位置的一个或者更多个RFID装置的性能评估)。例如，根据本发明的实施例，公开了RFID应用测试系统，其用于提供将RFID装置定位在物品上(例如一件零售商品或其它任意所期望的与RFID装置关联的物品)的可接受的或可能的最佳位置的快速评估。

【0009】作为例子，根据本发明实施例，RFID应用测试系统可以将具有RFID装置的测试装置和连接到RFID读卡器的耦合器(例如近场耦合器)配合使用。使用者可将测试装置的RFID装置放在物体的不同位置用以迅速确定RFID装置在各个选定位置的性能(例如，相对性能)。

【0010】例如，使用者可将测试装置的RFID装置移过零售商品上的期望位置(以连续的方式)，用以连续地评估RFID装置的性能，并快速决定RFID装置的最佳位置和与不太理想的位置相比获得的相对性能。而且，如果RFID装置的性能是基于近场量度确定的，则除了从其他系统中发出或至其他系统的可能干扰或由于测试环境，例如存在进行测试的操作员而造成的干扰之外，射频辐射可能减少。

【0011】使用近场测试法的另一个好处在于，来自测试系统的辐射的RF能量得以减少，这使测试的执行较少干扰到其它系统。例如，在某一个地点可以同时运行不止一个近场测试系统，以方便平行地进行产品的测试。

【0012】本发明的范围由权利要求所限定，并入此节以做参考。通过考虑以下一个或者更多个实施例的详细描述，将给本领域技术人员关于本发明实施例以及其额外优点的实现更完整的理解。在此先就作为参考的附图进行简要的介绍。

附图说明

【0013】图1为示例说明根据本发明实施例的RFID测试装置的图。