[发明专利]测试装置以及选择装置

权利要求书

1.一种测试装置，测试被测试存储器，其特征在于所述被测试存储器包括，各自具有复数列的多个块、以及为了能够成批置换前述多个块中的同一列位置上的全部列而设置的修复用列；所述测试装置包括，

测试部，其测试前述被测试存储器的每个块，输出测试对象块的每列是否良好；

标志存储器，其与前述测试对象块具有的前述复数列分别对应，存储显示该块的该列是否良好的标志；

计数存储器，其与前述复数列分别对应，存储在该列的列位置上有不良的块数；

失效写入部，从前述测试部接收的前述测试对象块内的测试对象列的测试结果，以至少满足测试结果为不良，以及与该列对应、在前述标志存储器内存储的前述标志显示不良中的一方为条件，将表示该列不良的前述标志写入前述标志存储器；

计数部，从前述测试部接收前述测试对象列的测试结果，以该测试结果为不良，且与该列相对应、在前述标志存储器内并未存储显示不良的前述标志为条件，与该列对应累加前述计数存储器中存储的块数；

选择部，其根据前述计数存储器中存储的各列的不良块数，选择应置换为前述修复用列的列。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：前述测试部对前述复数块各自具有的复数页面分别进行测试，输出该页面的各列是否良好，

前述失效写入部以接收到前述测试对象块内的最初的测试对象页面内的测试对象列的测试结果为条件，将表示该测试结果是否良好的前述标志写入前述标志存储器。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：前述测试部依次测试前述各个复数块，输出前述测试对象块的各列是否良好；

前述标志存储器在前述复数块共用的存储区域内存储与前述测试对象块具有的前述复数列各自对应的前述标志。

4.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：前述标志存储器在针对前述复数块分别单独设置的存储区域内存储与该块具有的前述复数列各自对应的前述标志。

5.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于：前述测试部针对前述复数块中的每一个，从该块具有的复数页面中页面号码最小的页面开始依次测试，

前述失效写入部以接收到前述测试对象块内的页面号码最小页面的前述测试对象列的测试结果为条件，将表示该测试结果是否良好的前述标志写入前述标志存储器。

6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于：前述选择部作为应置换为前述修复用列的列，更优先选择比不良块数更大的列位置对应的列。

7.一种选择装置，其特征在于选择被测试存储器的应置换为前述修复用列的列位置，所述被测试存储器配置有各自具有复数列的复数块，以及可以将前述复数块中的同一列位上的所有列成批置换而设置的修复用列，其特征在于，该选择装置具有：

标志存储器，其与构成测试对象的测试对象块具有的前述复数列分别对应，存储表示该块的该列是否良好的标志；

计数存储器，其与前述复数列分别对应，存储该列的列位置上具有不良的块数；

失效写入部，其输入前述测试对象块内的测试对象列的测试结果，以至少满足该测试结果为不良，以及与该列对应、存储在前述标志存储器内的前述标志显示不良中的一方为条件，将显示该列为不良的前述标志写入前述标志存储器；

计数部，其输入前述测试对象列的测试结果，以该测试结果为不良，且与该列对应的前述标志存储器内未存储显示不良的前述标志为条件，与该列对应，累加前述计数存储器中存储的块数；以及

选择部，其根据前述计数存储器中存储的各列的不良块数，选择应置换为前述修复用列的列。

8.一种测试装置，其特征在于其测试作为闪速存储器的被测试存储器，根据测试结果进行修复用分析处理，该闪速存储器具有分割为复数块的存储区域、以及复数列的修复用修复行，所述测试装置具有：

测试部，其给前述被测试存储器提供测试信号，用期望值与按照前述测试信号从前述被测试存储器输出的读出数据进行比较，将比较结果作为失效信息输出；

分析部，与对前述被测试存储器的测试并行，生成修复用的分析处理信息；

前述分析部具有：

标志存储器，其接收与前述测试部访问前述被测试存储器的地址对应的地址信号，将前述测试部输出的失效信息累加后的标志信息存储到前述被测试存储器的前述块与前述修复行对应分割的每个存储区域内；

计数存储器，其接收与前述测试部访问前述被测试存储器的地址对应的地址信号，针对前述被测试存储器具有的复数列的每一个修复行，存储前述测试部输出的前述失效信息的发生次数的计数结果。