[发明专利]金属的表面温度测定装置无效
| 申请号： | 200680009325.X | 申请日： | 2006-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101147050A | 公开（公告）日： | 2008-03-19 |
| 发明（设计）人： | 金森英夫;市谷克实 | 申请（专利权）人： | 出光兴产株式会社 |
| 主分类号： | G01K1/18 | 分类号： | G01K1/18;G01K1/14;G01N25/18 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴娟;李炳爱 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 金属 表面温度 测定 装置 | ||
【权利要求书】：
1.金属的表面温度测定装置，该装置具有装冷却剂的容器、被测物、加热该被测物的加热器、使上述被测物移动的移动设备以及测定上述被测物表面温度的温度计等，其特征在于：上述被测物的主体由银或铜形成，同时在上述主体的表面形成有由导热性低的金属制成的薄膜。
2.权利要求1所述的金属的表面温度测定装置，其特征在于：上述被测物的薄膜是纯铁或铁合金的薄膜，同时至少将上述容器、上述加热器和上述被测物置于惰性气体气氛的腔室内。
3.权利要求1或2所述的金属的表面温度测定装置，其特征在于：上述薄膜的厚度为1-100μm。
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