[发明专利]降低x－射线辐射对植入式医疗设备电路不良影响的方法和器械

说明书

发明领域

本发明一般涉及植入式医疗设备(IMD)，更具体地涉及降低x-射线辐射冲击活性IMD(例如，起搏器、神经刺激器、治疗物质泵、生理学监视器等)工作电路的负性作用；具体地说，本发明涉及在正电子发射体层摄影(PET)、计算机体层摄影(CT)、透视类和其它包括较新的成像形式的x-射线成像扫描如数字减影血管造影(DSA)和Angio-CT、以及未知来源的偶发性x-射线辐射冲击期间降低这种x-射线辐射冲击。

背景技术

自从1960年代引入了植入性起搏器以来，可植入起搏器在电子和医疗领域都经历了长足的发展，因而目前存在大量市售可植入体内的电子医疗设备。当前IMD的类型包括起搏器、植入式复律-除颤器(ICD)、除颤器、神经刺激器和给药设备等。今天IMD技术发展现状比过去更加成熟和复杂，能够执行显著复杂得多的任务。此外，已很好地证明了这些设备的治疗效果。

由于多年来IMD功能成熟性和复杂性的增加，已发现它们易于受到更加成熟和复杂的干扰源的影响。具体地说，发现常规IMD易于受到诸如磁共振成像(MRI)扫描期间磁共振成像(MRI)设备产生的电磁干扰信号的影响。例如，Yong K.Cho等的共同待批申请序列号10/004,237通过采用基于机械的心脏活动监测系统代替典型的基于电子的传感系统解决了当IMD暴露于阈值以上的MRI辐射时的易损性。Cho等2001年10月31日提交了题为“ALTERNATIVESENSING METHOD FOR IMPLANTABLE MEDICAL DEVICE IN MAGNETICRESONANCE IMAGING DEVICE”(磁共振成像设备中植入式医疗设备的替代感应方法)的申请，其内容通过引用包括在此。

常规心脏IMD典型地利用心内电描记图(EGM)感应心脏节律，并且依赖于精确测量和定时的间隔来可靠递送所需治疗。发明者发现，x-射线照射对用于收集EGM的感应放大器(导致所谓的过度感应)、晶体振荡电路中所用的时钟监测电路(用于产生某些IMD的主要定时时钟)以及其它元件和电路都具有不良影响。可能受到不良影响的其它元件或电路包括电池状态监视器、阻抗测量放大器、活动感应放大器等。

即，在暴露于x-射线辐射期间，例如CT-扫描期间或透视成像检查期间，由于过度感应和/或不正确时钟性能导致的改变，收集的心脏EGMs可能扭曲变形，使得正确评价心脏节律和/或功能变得更加困难。此外，在某些IMD中，可发生完全或/或部分电复位(PER)，不可避免地暂时降低了治疗传递。