[发明专利]用于微流体器件的紧凑型光检测系统

权利要求书

1.一种干聚焦微流体器件，包括：

第一基板；

在所述第一基板中形成的多个通道，其中至少一个通道是微流体通道；

在所述第一基板中形成、与所述多个通道间隔开的多个光学校准标记，各个 校准标记具有用于反射照射到所述光学校准标记上的光的曲壁；以及

结合到所述第一基板使得所述通道被覆盖且所述校准标记被封闭的第二基 板；

其中至少一个通道定位在至少两个校准标记之间。

2.如权利要求1所述的器件，其特征在于，所述光学校准标记形成两个阵列， 其中所述多个通道包括至少两个平行通道，且所述平行通道定位于所述两个阵列之 间。

3.如权利要求1所述的器件，其特征在于，所述光学校准标记通过从由蚀刻、 冲压、压印、铸模、激光烧蚀、及其组合组成的组中选择的方法形成。

4.如权利要求1所述的器件，其特征在于，所述光学校准标记是通过使用各 向同性蚀刻和正方形的10x10微米掩模单元而被蚀刻到所述基板中的。

5.如权利要求1所述的器件，其特征在于，所述器件包括至少12个平行通道 和至少22个光学校准标记，其中所述校准标记形成两个各有11个光学校准标记的 阵列，所述阵列与所述通道平行并在其外侧定位。

6.一种用于微流体器件的光学检测系统，包括：

干聚焦微流体器件，其包括：

第一基板；

在所述第一基板中形成的多个通道，其中至少一个通道是微流体通道；

在所述第一基板中形成、与所述多个通道间隔开的多个光学校准标记， 各个校准标记具有用于反射照射到所述光学校准标记上的光的曲壁；以及

结合到所述第一基板使得所述通道被覆盖且所述校准标记被封闭的第二 基板；

其中至少一个通道定位在至少两个校准标记之间

发光二极管；

使所述发光二极管所发射的光准直的装置；

非球面、熔融石英物镜；

引导经准直的光使其通过所述物镜到达微流体器件的装置；以及

检测从所述微流体器件中发射的荧光信号的装置。

7.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述物镜的数值孔径为0.5。

8.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述准直装置包括狭缝和开缝透 镜。

9.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述引导装置包括二向色性分束 器。

10.如权利要求6所述的系统，其特征在于，所述检测装置包括CCD。

11.如权利要求10所述的系统，其特征在于，还包括CCD透镜。

12.如权利要求11所述的系统，其特征在于，所述CCD透镜包括三体联合透 镜元件。

13.如权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括聚光透镜、激发带通滤波 器、拒波滤波器、衍射光栅、分束器、折叠式反射镜和发射带通滤波器中的一个或 多个。

14.如权利要求6所述的系统，其特征在于，由所述发光二极管发射的光被轴 向传输到所述微流体器件。

15.如权利要求6所述的系统，其特征在于，还包括外部光源。

16.如权利要求15所述的系统，其特征在于，从所述物镜到所述微流体器件 的工作距离被调节成允许用来自所述外部光源并以斜角传输的光照射所述微流体 器件。

17.如权利要求16所述的系统，其特征在于，所述从所述物镜到所述微流体 器件的工作距离为16mm。

18.如权利要求15所述的系统，其特征在于，所述外部光源是发光二极管和 激光器之一。