[发明专利]沉积、检测和鉴别威胁物质的系统和方法

权利要求书

1.一种方法，包括：

将威胁物质样品沉积在基底上；以及

在将威胁物质样品沉积在基底的基本同时，鉴别所述威胁物质。

2.如权利要求1所述的方法，进一步包括通过单个照明源用大量的光 子照射沉积在基底上的威胁物质，由此产生弹性散射光子和拉曼散射光 子。

3.如权利要求2所述的方法，其中鉴别威胁物质包括：

采用弹性散射成像从而形成威胁物质的图像，分析基底上的所述物质 产生的弹性散射光子；和

采用拉曼光谱法，分析基底上的威胁物质产生的拉曼散射光子。

4.如权利要求3所述的方法，进一步包括将拉曼光谱与至少一个参照 拉曼库光谱进行比较，以鉴别所述威胁物质。

5.如权利要求3所述的方法，其中分析拉曼散射光子进一步包括产生 位于大约0cm^-1至大约3500cm^-1的拉曼位移范围内、光谱分辨率低于 20cm^-1的拉曼光谱。

6.如权利要求3所述的方法，其中分析拉曼散射光子进一步包括同时 产生位于大约0cm^-1至大约3500cm^-1的拉曼位移范围内、全光谱分辨率低 于20cm^-1的多个空间独立的图像通道。

7.如权利要求3所述的方法，其中分析威胁物质产生的弹性散射光子 包括采用以下一个和反馈控制机构自动将威胁物质的图像聚焦于基底 上：CMOS检测器、CCD检测器或高帧速数据检测器。

8.如权利要求3所述的方法，其中分析拉曼散射光子包括将拉曼散射 光子通过选自以下组的装置，所述组由可调滤光器、带通滤光器、液晶可 调滤光器、干涉仪、声波光学可调滤光器和分散光学装置组成，以产生多 个空间分辨的拉曼光谱。

9.如权利要求3所述的方法，其中分析拉曼散射光子包括将拉曼散射 光子通过以下一个：

行扫描分光计，从而从被照明源照射的样品体积产生多个空间分辨的 拉曼光谱；

多点分光计，从而从被照明源照射的样品体积产生多个空间分辨的拉 曼光谱；

单点分光计，从而从被照明源照射的样品体积产生多个空间分辨的拉 曼光谱；

区域成像分光计，从而从被照明源照射的样品体积产生多个空间分辨 的拉曼光谱；

点分光计，从而从被照明源照射的样品体积产生单个拉曼光谱。

10.如权利要求3所述的方法，进一步包括采用一光学系统收集弹性散 射光子和拉曼散射光子，其中所述照明源位于光路上，所述基底位于一平 面内，其中光路与基底平面之间的角度不等于90°。

11.如权利要求1所述的方法，进一步包括：

在触发模式下操作，以检测以下一个：

威胁物质的存在，

威胁物质的不存在；以及

在鉴别模式下操作，以鉴别威胁物质。

12.如权利要求11所述的方法，其中所述触发模式间有触发时间间隔， 所述鉴别模式具有鉴别时间间隔，其中所述触发时间间隔小于鉴别时间间 隔。

13.如权利要求11所述的方法，进一步包括在触发模式检测到威胁物 存在的时侯，启动鉴别模式。

14.如权利要求11所述的方法，进一步包括在鉴别模式工作期间，累 积另外量的威胁物质。

15.如权利要求11所述的方法，进一步包括在触发模式检测到威胁物 质的基本同时，启动鉴别模式。

16.如权利要求1所述的方法，其中将威胁物质沉积在基底上包括以下 一个：将威胁物质超声沉积、电喷和惯性冲击至基底上。

17.如权利要求1所述的方法，其中将威胁物质样品沉积在基底上进一 步包括将至少50个颗粒沉积在基底上。