[发明专利]电路布线的干扰分析设备、干扰分析程序以及干扰分析设备所用的数据库、非对称耦合线路模型有效

专利信息
申请号: 200680012593.7 申请日: 2006-04-14
公开(公告)号: CN101160584A 公开(公告)日: 2008-04-09
发明(设计)人: 岩城秀树;小松直树;小掠哲义;山田彻 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50;H05K3/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电路 布线 干扰 分析 设备 程序 以及 所用 数据库 对称 耦合 线路 模型
【权利要求书】:

1.一种干扰分析设备,分析设置在电路板上且包含耦合线路的布线间的干扰,其中,包括:

输入部,输入表示上述电路板上的布线的布置的设计数据;

选择部,选择由上述设计数据表示的上述电路板的至少一部分作为分析区域;

分割部,将上述分析区域内的布线分割为计算电路矩阵的单位、即段;

计算部,对上述分割部分割出的段中并行相邻的多个段构成的耦合线路、或单个段计算电路矩阵;以及

分析部,根据上述电路矩阵,来求上述分析区域中的布线间的电磁场干扰的程度;

上述计算部使用在包含上述耦合线路的传输线的电阻(R)、电感(L)、并联电导(G)及静电电容(C)的RLGC参数上、加上表示耦合线路的非对称程度的非对称程度参数所得的参数组,来计算上述耦合线路的电路矩阵。

2.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述非对称程度参数是对非对称的耦合线路的非对称性进行插值而能将非对称的耦合线路作为对称的耦合线路处理的参数。

3.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述非对称程度参数是使上述电路矩阵在数学上旋转、以使得在非对称的耦合线路上奇模和偶模为1∶1的对称的关系的参数。

4.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述非对称程度参数是用耦合线路中包含的线路单独存在的情况下的阻抗计算出的。

5.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述非对称程度参数P是在由第1线路和第2线路构成的耦合线路上用下式(1)计算出的参数:

P=(第1线路单独存在的情况下的阻抗/第2线路单独存在的情况下的阻抗)1/2…(1)。

6.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,

由第1线路、第2线路及第3线路构成、且具有上述第1线路和上述第3线路之间的距离大于其他2个线路间的距离的构造的耦合线路的非对称程度参数P1、P2、P3,分别是用下式(1-a)、式(1-b)、式(1-c)计算出的参数;

上述计算部用P1、P2、P3作为非对称程度参数,来计算上述耦合线路的电路矩阵:

P1=(第1线路和第2线路之间的偶模下的阻抗/第3线路和第2线路之间的偶模下的阻抗)1/2…(式1-a);

P2=(将第2线路接地的情况下的第1线路的阻抗/将第2线路接地的情况下的与第3线路之间的阻抗)1/2…(式1-b);

P3=(第1线路和第2线路之间的奇模下的阻抗/第3线路和第2线路之间的奇模下的阻抗)1/2…(式1-c)。

7.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述分割部将布线分割成,在上述分析区域中存在的并行相邻的2根布线中,上述2根布线平行排列的部分和不平行的部分之间的边界部位被包含在上述段的边界中。

8.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述电路矩阵是S矩阵。

9.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,

还包括记录部,该记录部记录着在包含耦合线路的传输线的电阻(R)、电感(L)、并联电导(G)、静电电容(C)的RLGC参数上、加上表示耦合线路的非对称程度的非对称程度参数所得的多个参数组;

在上述记录部中,上述参数组与表示该参数组涉及的耦合线路的构造的线路信息对应起来记录;

上述计算部对上述分析区域内的耦合线路,从上述记录部中搜索与该耦合线路的构造一致的线路信息,用与搜索的结果得到的线路信息对应的参数组,来计算上述耦合线路的电路矩阵。

10.如权利要求9所述的干扰分析设备,其中,上述计算部在上述搜索的结果是不能得到相应的参数组的情况下,通过用与上述搜索涉及的耦合线路的构造接近的线路信息的参数组进行插值,来取得上述耦合线路的参数组。

11.如权利要求1所述的干扰分析设备,其中,上述计算部用在包含耦合线路的传输线的电阻(R)、电感(L)、并联电导(G)、静电电容(C)的RLGC参数上、加上表示耦合线路的非对称程度的非对称程度参数所得的参数组,对不同的多个频率,计算上述耦合线路的电路矩阵。

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