[发明专利]测试点得知对象

说明书

要求优先权

本专利申请要求第60/676,005号美国临时专利申请以及第11/192,927号美国专利申请的优先权，在此引用该两个专利申请的全部内容供参考，如同在此提出。

技术领域

本发明一般地涉及一种具有多个用于测试多个器件的测试点的自动测试设备(ATE)，更具体地说，本发明涉及在测试多个器件的过程中ATE使用的测试点得知对象(site-aware object)。

背景技术

ATE指通常由计算机驱动的自动化方式的测试器件，例如，半导体、电子电路以及印刷电路板组件。ATE测试的器件，例如半导体器件，被称为被测器件(DUT)。

当今的ATE支持多点测试。支持多点测试的ATE包括多个测试槽，或“测试点”。将要测试的器件插入每个测试点内，ATE对测试点内的器件执行其所需的测试。在测试中通常涉及计算机程序。无需改变这些计算机程序中的代码而能测试在多个测试点中的器件的能力被称为“测试点透明性”。更具体地说，测试点透明性指自动管理测试点和测试点数据，使得用户几乎不用负责这种任务，以及几乎不需要考虑其测试是多测试点的，直到被要求这样做。如果有效，用户将不会一直意识到其编程的测试点维数。

测试点透明性是ATE的一个显著优点，因为它允许用户配置多个被测试的器件，而无需对测试程序代码做较大修改。

发明内容

本申请描述了包括用于实现测试点得知对象的计算机程序产品的设备和方法。

总之，在一个方面中，本发明涉及一种用于具有多个测试点的自动测试设备(ATE)的方法，其中每个测试点分别容纳被测器件(DUT)。该方法包括：定义用于多个测试点的对象，其中该对象包括至少与多个测试点中的一些测试点相关的数据，而且其中该对象确定哪些测试点是激活的；以及在利用ATE测试DUT期间，使用该对象。该方面还可以包括如下特征中的一个或者多个。

ATE可以包括用于管理测试点的相关ATE软件测试点管理基础架构(ATE software site management infrastructure)。该对象可以与ATE软件测试点管理基础架构通信，以确定哪些测试点是激活的。在测试期间使用该对象可以包括如下之一个或者多个：通过该对象对ATE编程；将来自ATE的仪器读数存储在该对象中；利用该对象处理仪器读数；以及将测试结果记录在该对象中。处理可以包括改变仪器读数和/或向测试子系统报告该读数。

可以用编程语言定义该对象。编程语言可以象处理单个数据单元一样处理该对象。该数据可以包括用于标识哪些测试点是激活的的布尔数据。该数据可以包括引脚清单数据。该引脚清单数据可以包括对应于至少一个DUT的各引脚的仪器测量值的引脚数据。

可以用编程语言定义该对象，而且该方法还可以包括：在该编程语言中定义操作，其中该操作是该对象特有的。该操作可以包括对应于对编程语言中的本地变量执行的数学运算的一种数学运算。

总之，在另一个方面中，本发明涉及一种系统，该系统包括：具有多个测试点的自动测试设备(ATE)，其中分别配置每个测试点以适应被测器件(DUT)；以及与ATE通信的处理装置。该处理装置执行指令，以便实施前述方面的方法。本方面还可以包括与前述方面相同或者不同的特征。

在下面的附图和说明书中详细描述了一个或者多个例子。根据说明书、附图以及权利要求书，本发明的其他特征、方面以及优点将是显而易见的。

附图说明

图1是ATE系统的方框图。

图2是测试点得知对象的示意图。

图3是在测试期间使用测试点得知对象的过程的流程图。

不同附图中同样的参考编号表示同样的单元。

具体实施方式

图1示出测试多个DUT使用的系统10。系统10包括ATE 12。ATE 12包括器件接口板(DIB)14，用于将器件连接到ATE。DIB 14具有多个测试点16a至16d。DUT可以插入每个测试点内，以便利用ATE进行测试。尽管图1仅示出4个测试点，但是ATE 12可以包括任意数量的测试点。此外，在图1所示的例子中，每个测试槽有一个DUT，然而，并不要求所有测试点都被占据。

每个DUT可以是利用ATE可以测试的任意类型的器件，其例子包括但是并不局限于半导体器件和电子组件。