[发明专利]光记录介质、溅射靶和偶氮金属螯合物染料

权利要求书

1.一种光记录介质，该光记录介质在具有同心圆状或螺旋状的槽的基板上具有至少由有机染料构成的记录层和含有金属的反射层，最短标记长小于0.4μm，或者以35.0m/s以上的记录线速度进行记录，所述光记录介质的特征在于，

所述基板上的导向槽的轨道间距为0.8μm以下，槽宽为0.4μm以下，槽内的记录层膜厚为70nm以下，

在ISO-105-B02给出的光照射条件的Wool scale 5级(耐光性试验)中，形成所述记录层的所述有机染料单层的下述定义的染料保持率为70％以下，

在300nm～500nm的波长范围内，所述反射层在空气中的反射率R对波长λ的微分值dR/dλ(％/nm)为3以下，

所述染料保持率的定义为：在300nm～800nm的波长范围内，在形成所述记录层的有机染料单层的涂布膜的最大吸收波长处，所述耐光性试验前后的吸光度的比例，即，{(试验后吸光度)/(试验前吸光度)}×100(％)。

2.如权利要求1所述的光记录介质，其特征在于，所述反射层含有选自Cu、Au和Al中的至少1种元素，且所述元素的合计的比例在所述反射层中为50原子％以上。

3.如权利要求1或2所述的光记录介质，其特征在于，在波长300nm～500nm处，所述反射层在空气中的反射率为20％～70％。

4.如权利要求1～3的任一项所述的光记录介质，其特征在于，所述记录层至少含有由下述通式(1)表示的偶氮系化合物和Zn的金属离子构成的偶氮金属螯合物染料作为有机染料，

(1)

在通式(1)中，

R¹表示氢原子或以CO₂R³表示的酯基，在此，R³表示直链或支链的烷基或者环烷基，

R²表示直链或支链的烷基，

X¹和X²之中至少任意一个表示NHSO₂Y基，在此，Y表示具有至少2个氟原子取代基的直链或支链的烷基，同时X¹和X²之中的另一个基团表示氢原子，

R⁴和R⁵各自独立地表示氢原子、直链或支链的烷基或者直链或支链的烷氧基，

R⁶、R⁷、R⁸和R⁹各自独立地表示氢原子或碳原子数为1或2的烷基，

此外，H⁺从所述NHSO₂Y基脱离，形成NSO₂Y^-阴性基，从而所述通式(1)表示的偶氮系化合物与金属离子形成配位键。

5.如权利要求1～4的任一项所述的光记录介质，其特征在于，所述记录层至少含有下述通式(2)表示的花青系染料作为有机染料，

(2)

通式(2)中，

环A和环B各自独立地表示可以具有取代基的苯环或萘环，

R¹⁰和R¹¹各自独立地表示可以具有取代基的碳原子数为1～5的烷基，

R¹²、R¹³、R¹⁴和R¹⁵各自独立地表示可以具有取代基的碳原子数为1～5的烷基，

R¹⁶表示氢原子、卤原子、氰基或者可以具有取代基的碳原子数为1～5的烷基，

Q^-表示抗衡阴离子。