[发明专利]确定最小操作电压的自测试电路

权利要求书

1.一种用于动态改变半导体芯片的最小操作电压的系统，包括：

受测电压岛(VIUT)，具有根据特定应用来操作的电路组；

受调节的电压源，向所述电压岛的电路组供应电源电压；

控制装置，用于设置所述电压岛的电源电压电平；以及

内置自测试(BIST)，操作性地耦连到所述受测电压岛，用于测试所述电路组，以确定要为通过的BIST测试提供的、电压岛所需的最低操作电压，并生成表示所述最低操作电压的控制信号，其中，所述控制装置响应于所述控制信号，以将电压岛的所述电压电平设置为所述最低操作电压。

2.如权利要求1所述的系统，其中，在所述电压岛上的被测试的所述电路组包括逻辑电路。

3.如权利要求1所述的系统，其中，在所述电压岛上的被测试的所述电路组包括存储器阵列电路。

4.如权利要求1所述的系统，其中，所述BIST测试包括迭代过程，用于以预定速度测试VIUT电路组，确定所述BIST测试是否通过并向所述控制装置发出控制信号，以作为响应而降低施加到所述电压岛的电路组的电源电压，重复所述迭代过程直到发生BIST测试失败。

5.如权利要求4所述的系统，其中，所述控制装置包括数字模拟转换器，用于设置电压岛的电源电压电平，所述DAC转换器响应于所述BIST控制信号而调整施加到所述电压岛的所述电源电压。

6.如权利要求5所述的系统，其中，所述控制装置包括使得能够将所述电源电压电平设置成最低工作电压加上预定电压量的装置，其中所述预定电压量包括安全裕量电压。

7.如权利要求4所述的方法，其中，所述受测电路组包括特定应用集成电路(ASIC)，所述用于以预定速度测试VIUT电路组的BIST测试包括以应用速度测试所述电路组。

8.如权利要求4所述的系统，其中，所述受测电路组包括操作的待机模式，所述用于以预定速度测试VIUT电路组的BIST测试包括以低速度测试所述电路组，使得施加最小的最低可能功率电平，同时仍然提供维持数据信息的能力。

9.如权利要求4所述的系统，还包括用于当检测到操作条件改变时触发用于测试所述VIUT电路组的所述测试BIST的装置。

10.如权利要求9所述的系统，其中，所述操作条件的改变包括电压或温度的大的改变。

11.如权利要求1所述的系统，还包括存储器存储装置，用于存储用来设置所述VIUT电路组的操作状态的所述控制信号，所述存储器存储装置包括以下中的一个或多个：可编程熔丝设备、或锁存器设备。

12.一种用于动态改变半导体芯片的最小操作电压的方法，包括：

使用内置自测试(BIST)测试设备来测试具有根据特定应用而操作的电路组的电压岛(VI)，其中，所述BIST测试装置被操作性地耦连到所述受测电压岛，用于测试所述电路组，以确定要为通过的BIST测试提供的、电压岛所需的最低操作电压；

生成表示所述最低操作电压的控制信号；以及，

基于所生成的控制信号，调整施加到VI的电源供应电压，以便提供用于所述电路组的最小操作电压。

13.如权利要求12所述的方法，其中，所述BIST测试装置实施迭代过程，包括步骤：

a)以预定速度测试VI电路组；

b)确定所述BIST测试是否通过，并向控制装置发出控制信号，所述控制装置适合于进行响应以降低施加到所述电压岛的电路组的电源电压；以及，

c)重复所述步骤a)-b)直到发生BIST测试失败。

14.如权利要求13所述的方法，其中，所述控制装置包括用于设置电压岛的电源电压电平的装置，所述确定步骤b)包括响应于所述所发出的控制信号，以在每次迭代时调整施加到所述电压岛的所述电源电压。

15.如权利要求14所述的方法，其中，控制装置包括数字模拟转换器(DAC)装置，用于使得能够在每次迭代时调整所述电源电压。

16.如权利要求14所述的方法，其中，将所述电源电压电平调整为最低工作电压加上预定电压量，其中所述预定电压量包括安全裕量电压。