[发明专利]用于纠错的装置、方法和程序

说明书

技术领域

本发明涉及用于纠正从磁带等记录介质读出的数据的错误，更详细的说涉及用于利用积码块来纠正数据的错误的装置等。

背景技术

在对记录介质进行数据的写入或读出的数据记录再现装置中，一般进行错误的检测和纠正，以便不会由于数据的错误而产生重大的故障。特别是近年来，从提高数据的可靠性或数据记录的高密度化的观点出发，广泛进行基于积码的纠错。

积码可以定义为通过将用户数据配置为行列状，在行方向以及列方向上配置奇偶校验码来构成的行列状的码。而且，通常积码由行方向的C1码和列方向的C2码构成，在C1码中包含作为用于纠正该错误的奇偶校验(parity)码的C1奇偶校验，在C2码中包含作为用于纠正该错误的奇偶校验码的C2奇偶校验。在这样的积码中，实际的纠错按照基于C1奇偶校验的C1码的纠正(C1纠正)、按照基于C2奇偶校验的C2码的纠正(C2纠正)的顺序进行。通过这样的纠正方法，由于在C1纠正中不能纠正的行可以在C2纠正中通过消失纠正来纠正，所以可以纠正较多的错误。

而且，作为这样的积码的纠正方法，以往提出了多种方法(例如，参照专利文献1，2)。

专利文献1：特开平11-203615号公报(第5-7页，第2图)

专利文献2：特开平11-203797号公报(第8、9页，第2图)

发明内容

发明要解决的问题

然而，近年来，由于数据记录再现装置的大容量化，随机误差的发生率有上升的倾向。对于这样的随机误差的发生率的上升，在积码中一般通过选择更高的C1纠正能力来对应。

但是，在能够发生的误差中，不仅有这样的随机误差，而且还有因为记录介质上的伤或磁头(head)不良等引起的连续产生的连续误差(burst error)，在仅考虑随机误差而选择了高C1纠正能力的情况下，还存在对于超过检测能力的长度的连续误差，误纠正的概率上升的问题。

以LTO(线性磁带开放：Linear Tape-Open)磁带驱动中的纠错方法为例说明该问题。而且，LTO是IBM、惠普(ヒユ一レツトパツカ一ド)、希捷(シ一ゲイトテクノロジ(現カンタム))三个公司共同商定的磁带格式。

一般的，纠错码对于最小代码间距dmin，可以纠正满足dmin≥2t+d+1的关系的t字节的错误，并且检测t+d字节的错误。

因此，在以往的LTO磁带驱动的纠错方法中，首先，设C 1码的最小代码间距dmin＝7，为了提高检测能力采用了t＝2(可以纠正2字节的错误)，并且d＝2(能够检测4字节的错误)的分配。于是，一边检测3字节以上的错误，一边对于不能纠正的C1码用C2码进行消失纠正。

然而，对于C1码，为了提高纠正能力设t＝3(可以纠正3字节的错误)时，d＝0(可以检测3字节的错误)。即，与能够纠正2字节的错误的情况相比，虽然纠错能力提高，但是错误检测能力降低。其结果，误纠正概率上升。该误纠正概率的上升对于消耗C2码的纠正能力的连续误差成为问题。即，C1码的误纠正概率的上升传播到C2码，并且C2码的误纠正概率也上升。在C2码中产生了误纠正的情况下，由于数据被发送到主机(host)而未识别是误纠正的情况，所以产生故障。因为必须避免由于误纠正而产生故障的概率的上升，所以原样选择3字节纠正在实用上存在问题。

这里，如果对专利文献1、2的发明进行考察，则它们中的任何一个都是以磁头从磁道脱落的问题为对象，通过用两个磁头读取磁带上的同一C1码并比较它们，例如通过采用可纠正的一个，降低误纠正概率。即，没有对提高了随机误差的纠正能力时的连续误差的误纠正概率的上升提出任何解决对策。结果，在专利文献1、2中，存在不能降低对于这样的连续误差的误纠正概率的问题。

本发明是为解决上述的技术问题而完成的，其目的是，对于随机误差即使选择高纠正能力，对于超过检测能力的长度的连续误差的误纠正的概率也不上升。

解决课题的手段

基于有关的目的，在本发明中，参照对于成对的两个字节列的第一纠正的结果的两者，根据该纠正的程度进行第二纠正。即，本发明的第一装置，用于纠正包含第一方向的第一字节列和第二方向的第二字节列的积码块中的错误，其中包括：第一解码器，纠正第一字节列中的偶数号的字节构成的第一部分列、和第一字节列中的奇数号的字节构成的第二部分列的各个部分列中的错误；以及第二解码器，根据第一部分列中的纠正的第一程度和第二部分列中的纠正的第二程度的组合，纠正第二字节列。