[发明专利]能够提高存储器使用寿命的电路和方法

权利要求书

1.一种能够提高存储器使用寿命的电路，包括：

主存储介质；

主存储介质控制器，控制主存储介质的数据存取，与主存储介质一起构成主存储器；

其特征在于，还包括：

长寿命存储介质，存储需要频繁读写的基本信息和/或其他数据；

长寿命存储介质控制器，控制长寿命存储介质的数据存取，与长寿命存储介质一起构成长寿命储存器。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述主存储器为外部存储器或内部存储器。

3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述长寿命存储介质为非挥发性存储介质或随机存储介质。

4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述长寿命存储介质为磁体RAM、电阻RAM，铁磁随机存储介质、铁电存贮器FeRAM存贮介质、使用相变材料的OUM存贮介质、或超高密度存储介质。

5.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述主存储器为应用于ATA、或SATA、或SCSI、或存储卡、或USB、或蓝牙、或IEEE 1394接口的光存储器、磁光存储器、内部或外部非挥发性半导体存储器。

6.一种根据权利要求1所述的电路实现提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，在利用对存储器进行数据存取时，包括下列步骤：

(1)初始化长寿命存储器，从主存储器中读取需要频繁读写的基本信息和/或其他数据，存储到长寿命盘中；

(2)建立长寿命盘中所存储的需要频繁读写的基本信息/或其他数据的地址和主盘中的地址之间相关联的对照表；

(3)在进行数据存取操作时，检索所需要存取的数据地址是否是上述对应表中的地址，如果是，则在长寿命存储器中存取数据，否则，在主存储器中存取数据。

7.根据权利要求6所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，当主存储器为需要重复更换介质的主存储器，在关机或取出主存储介质时，还包括下列步骤：

(1)检查电源是否中断，如果中断，启动备用电源供电；

(2)将长寿命存储器中所存储的需要频繁读写的基本信息/或其他数据存储在主存储介质中。

8.根据权利要求6所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，在进行主存储器分区时将各分区的基本信息安装在主存储器中，而以后存取数据文件时则直接在长寿命存储器中进行基本信息操作和使用。

9.根据权利要求8所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，包括下列安装步骤：

1)安装相应驱动程序；

2)格式化长寿命存储器；

3)从主存储器中读取所述的需要频繁读写的基本信息/或其他数据，并将其存储到长寿命存储器；

4)建立长寿命存储器中所存储的数据的地址和主盘中的地址之间的相互对应关系的对照表并存入长寿命存储器。

10.根据权利要求6所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，在进行主盘分区时直接将各分区的基本信息安装在长寿命盘中，并且以后存取数据文件时直接在长寿命盘中进行基本信息的操作和使用。

11.根据权利要求9所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，包括下列安装步骤：

1)格式化主存储器；

2)将该主存储器的所有分区表和需要频繁读写的基本信息存储到长寿命存储器。

12.根据权利要求6所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，当主存储器或长寿命存储器的存储介质为非挥发性存储介质时，还包括下列步骤：在控制外部存储器的CPU的BIOS中，写入相应存储器里存储的数据。

13.根据权利要求6所述的提高存储器使用寿命的方法，其特征在于，在控制外部存储器的内部初始化参数表中写入所述的长寿命存储器和/或所述的主存储器中的基本信息。