[发明专利]用于探测运动中实心、细长待测物品内杂质的方法和设备无效

专利信息
申请号: 200680017227.0 申请日: 2006-06-07
公开(公告)号: CN101180535A 公开(公告)日: 2008-05-14
发明(设计)人: P·奥特;P·施密特 申请(专利权)人: 乌斯特技术股份公司
主分类号: G01N33/36 分类号: G01N33/36;G01N27/60
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 代理人: 丁纪铁
地址: 瑞士*** 国省代码: 瑞士;CH
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摘要:
搜索关键词: 用于 探测 运动 实心 细长 物品 杂质 方法 设备
【说明书】:

发明领域

本发明涉及使用电子装置对生条、粗纱、纱线或者织物等实心、细长纺织品进行探测的领域。根据独立权利要求书中的描述,本发明涉及一种用于探测运动中实心、细长待测物品内杂质的方法和设备。优选应用在纺纱机或者打轴机中对纱线进行监测。

背景技术

在纺织产业中,要求对纱线等细长纺织物内所含的聚丙烯等杂质进行可靠的探测和适当的量化。一般使用光学装置来实现该目的。根据WO-98/33061A1或者EP-1058112A1,使用紫外或者红外光线对纱线进行扫描。由于光的吸收,尤其可以探测出如聚丙烯等杂质。EP-0399945A2公开了使用两种不同波长的光线对纱线进行照明的方案。因此,可产生两个输出信号,并可确定这两个输出信号间的差值。如聚丙烯等杂质在该差值信号下会发生变化。所有的光学测量原理都具有如下缺点:即不能探测出相对施加光线来说是透明的、与该待测物品具有相同反射特性(“颜色”)的杂质,也不能探测出隐藏在待测物品内部并且不为外部可见的杂质。

通过使用电子装置可以避免光学测量原理的不完备性。EP-0924513A1中公开了一种通过电容来测定待测纺织物品中杂质所占比例的方法和设备。待测物品移动穿过平板电容,并受一交变电场的作用。从而可求出该待测物品的介电性能。通过所述介电性能求出两个电气值,然后将这两个电气值进行整合,得到一特征值,该特征值与所述待测物品的质量无关。将该特征值与预先求得的相关材料的特征值进行比较,并由此确定杂质的分布。这种测量原理的问题是:对湿度具有较大的敏感性。在EP-0924513A1公开的所述设备的优选实施例中,尝试通过使用一个与实际测量电容同步的参考电容来消除由空气湿度带来的干扰信号。这可通过增加一个与所述两块实际测量电容器极板平行放置的第三电容器极板来形成,其中上述三块电容器极板连接成电容电桥。然而,这种测量方法不能消除待测物品自身的湿度变化所带来的干扰信号。因此,该测量原理会引起非常多的虚假反应。

EP-0301395A2公开了一种用于探测运动中电绝缘织物表面不均衡性的方法和设备。相对所述织物运动方向横向前进的电导线位于所述织物附近。织物表面存在的电荷会在该导线中产生电信号。

通过令待测细丝经过静止电极来监测运动中细丝的方法也是公知的。细丝中的不规则干扰电荷会在电极中产生一电压信号。这种传感器可参见如DE-3215695A1、DE-9216181U1或者DE-19535177A1。但是,这种传感器产生的信号是不可靠的,并且会引起许多虚假反应。

根据CH-526459A5,其中用到了摩擦电(摩擦带电)传感器,以用于构建细丝探测装置,该装置可执行如下两种监测功能:检查静止细丝的存在/不存在(即存在监测器),以及检查纵向运动/静止(即运动监测器)。

EP-1037047A1使用了摩擦电测量原理。其中描述了一种用于探测运动纺织材料内所含杂质的方法和设备。首先,通过刷电极的方式将有可能已经存在的电荷从纺织材料中引走。提供了一种用于从运动纺织材料中接收摩擦电信号的探针。将该探针的输出信号与一参考值进行比较,该参考值为不含杂质的纺织材料的特征值。根据该比较结果可以确定杂质是否存在。通过刷电极的方法将已存在电荷引走,及将电荷沉积到所述纺织材料上要求有额外的作用力和额外的空间。而且,这种测量原理也会引发许多虚假反应,且主要通过静电放电的方式来引发虚假反应。

伴随现有技术状况产生的虚假反应并不都是有用的,因为这些虚假反应会导致生产过程不必要的停工。生产中断会因此经常发生于使用者。对于纺纱机而言,后果尤其严重,中断会持续近10分钟。许多不必要的中断造成的经济损失是巨大的。

发明内容

因此,本发明的目的是提出一种用于探测运动中的实心、细长纺织物品内杂质的方法和设备,不存在前面提到的缺点。尤其地,该方法和设备较为简单并节约空间。而且,可以实现经过改良的选择例。相对现有技术中情况,虚假现象将大大减少,而且具有相同或者更高的可靠性及杂质探测方面的灵敏性。

正如在独立权利要求所限定的,通过本发明所述方法及设备,可实现这些及其他目的。从属权利要求中则描述了优选实施例。

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