[发明专利]半导体装置和电源装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种半导体装置和一种电源装置，具体涉及一种能够稳定地输出电压的半导体装置以及一种设置有该半导体装置的电源装置。

背景技术

作为一种用于向负载提供稳定电压的半导体装置，例如稳压器的电源IC(集成电路)是公知的。为了防止产品间属性的大范围变化，即输出电压的变化，在产品出货前，执行用于减小属性变化的调整。

这种半导体装置通常设置有包括多个熔丝的熔丝电路，用于调整输出电压。在对半导体晶片进行检查期间，把待检查的半导体集成电路中包括的多个熔丝中的某些或全部熔丝烧断。通过烧断感兴趣的熔丝以改变电路常数，可以把输出电压值调整为落入关于目标值的指定范围内。

图1 4示出了传统半导体装置中包括熔丝的电路的示例。参考图14，输出部110向外部输出电压VOUT。输出部110包括多个电阻器R100、电阻器R101、电阻器R102、多个熔丝F100以及缓冲放大器B100。

电阻器R101以及多个电阻器R100串联于节点W100和节点W101之间。电阻器R102以及多个电阻器R100串联于节点W101和接地节点之间。与多个电阻器R100分别相对应地设置多个熔丝F100，而且这些熔丝分别与相应的电阻器R100并联。缓冲放大器B100的输入端子连接至节点W101，输出端子连接至节点W102。

电压VOUT等于节点W101处的电压。节点W101处的电压取决于节点W100和节点W101之间的电阻值以及节点W101和接地节点之间的电阻值。通过把多个熔丝F100中任意熔丝烧断，能够改变这些电阻值，从而改变电压VOUT。

使用例如激光器等来烧断熔丝。在熔丝烧断后，再次测量电压VOUT以确定电压VOUT是否落入关于目标值的指定范围内。

图15示出了传统半导体装置中包括熔丝的电路的另一个示例。参考图15，输出部120包括基准电压发生电路121、差分放大电路AMP、多个电阻器R100、电阻器R101、电阻器R102以及多个熔丝F100。差分放大电路AMP的非反相输入端子与基准电压发生电路121相连，反相输入端子与节点W101相连，且输出端子与节点W102相连。

电阻器R101和多个电阻器R100串联于节点W102和节点W101之间。电阻器R102和多个电阻器R100串联于节点W101和接地节点之间。与多个电阻器R100分别相对应地设置多个熔丝F100，而且这些熔丝分别与相应的电阻器R100并联。

电压VREF是基准电压发生电路121输出的电压。根据电压VREF和节点W101处的电压之差来确定电压VOUT。为了确定节点W101处的电压，从多个熔丝F100中选出待烧断的熔丝，并利用激光器等烧断所选熔丝。

作为利用熔丝对输出电压进行修正的电路的示例，例如日本专利待审公开No.9-34562(专利文献1)公开了一种电压修正电路，设置有：电平比较电路，基于输入电压与基准电压之间的比较而输出熔丝选择信号；熔丝选择电路，基于熔丝选择信号选择多个熔丝中的任意熔丝，并允许熔丝烧断电流流过所选熔丝；以及电压调整电路，基于多个熔丝中哪个熔丝被烧断而选择输入电压的修正值，并基于该修正值对输入电压进行修正。

专利文献1：日本专利待审公开No.9-34562

发明内容

本发明所要解决的问题

对于输出电压来说，与目标值偏离越小越好。换句话说，需要输出电压具有高精度。如果通过烧断熔丝来调整输出电压，则可以获得例如近似±1％的精度。然而，如果输出电压的精度将被设置得更高(例如精度被设置为±0.1％)，则通过烧断熔丝的传统调整方法导致如下问题。

在烧断熔丝之前，利用例如半导体测试仪的测试装置对输出电压进行测量，以检测测量结果和目标电压之间的误差。基于检测到的误差，指定待烧断的熔丝。例如，基于指示关于待烧断熔丝数目的输出电压改变的数据来指定待烧断的熔丝。该数据是利用另一个半导体集成电路预先测量的数据。因此，如果烧断基于该数据而选择的熔丝，则输出电压可能与预测结果不同，因此不能使输出电压的精度更高。

此外，由于制造工艺的变化，可熔电阻器的电阻值根据其在相同晶片平面上的位置而变化。因此，即使烧断熔丝以调整输出电压，也不能使输出电压的精度更高。

此外，利用激光烧断熔丝可能对激光所施加的部分造成损坏。被损坏的部分可能产生漏电流。在漏电流的影响下，烧断熔丝后获得的输出电压值可能明显偏离预测值。