[发明专利]用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置有效

专利信息
申请号: 200680019453.2 申请日: 2006-03-28
公开(公告)号: CN101189793A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: L·普兰迪;E·拉萨兰德拉;T·昂加雷蒂 申请(专利权)人: 意法半导体股份有限公司
主分类号: H03H9/02 分类号: H03H9/02
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;王小衡
地址: 意大利*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 控制 振荡 微机 系统 谐振 频率 装置
【权利要求书】:

1.一种用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置,包括:

微观结构(2),包括第一基体(10)和第二基体(11),所述第二基体(11)被电容性耦合到所述第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中所述第二基体(11)和所述第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及

放大器(21),其耦合到所述微观结构(2)用于检测所述相对位移(ΔY);

所述装置的特征在于包括它设置在所述微观结构(2)和所述放大器(21)之间的DC去耦元件(23)。

2.如权利要求1所述的装置,包括校准电路(27、35),所述校准电路(27、35)耦合到所述微观结构(2)以用于在所述第一基体(10)和所述第二基体(11)之间施加静电力(FER),以修改所述可校准的谐振频率(ωR)。

3.如权利要求2所述的装置,其中所述DC去耦元件(23)被设置在所述校准电路(27、35)和所述放大器(21)之间。

4.如权利要求2或3所述的装置,其中所述微观结构包括设置在所述第一基体(10)和所述第二基体(11)之间的电容耦合元件(13a,13b,14),且所述校准电路(27、35)包括移位电压源(27),其向所述电容耦合元件(13a,13b,14)提供移位电压(VS)以修改所述可校准的谐振频率(ωR)。

5.如权利要求4所述的装置,其中所述DC去耦元件(23)连接到所述放大器(21)的输入(28)以及所述电容耦合元件(13a,13b,14)。

6.如前述权利要求中任一权利要求所述的装置,其中所述DC去耦元件(23)是电容类型的。

7.如前述权利要求中任一权利要求所述的装置,其中所述放大器(21)是全差分放大器。

8.如权利要求7所述的装置,包括向所述放大器(21)提供共模电压(VCM)的共模电压源(26)。

9.如从属于权利要求4的权利要求8所述的装置,其中所述移位电压(VS)与所述共模电压(VCM)不相关。

10.如权利要求9所述的装置,包括第一开关(31),用于可替换地连接和断开所述放大器(21)的输入(28)和所述共模电压源(26),以及第二开关(35),用于可替换地连接和断开所述电容耦合元件(13a,13b,14)和所述移位电压源(27)。

11.如权利要求8到10中任一权利要求所述的装置,其中所述DC去耦元件(23)连接在所述移位电压源(27)和所述共模电压源(26)之间。

12.如前述权利要求中任一权利要求所述的装置,其中所述微观结构(2)包括弹性连接元件(12),用于弹性地连接所述第一基体(10)和所述第二基体(11),所述弹性连接元件(12)被成形以使所述第二基体(11)能够根据预定轴(Y)相对于所述第一基体(10)进行振荡。

13.如权利要求12所述的装置,其中所述弹性连接元件(12)具有弹性常数(KM)并且其中所述谐振频率(ωR)与所述弹性常数(KM)和所述第二基体(11)的质量(M)相关。

14.一种振荡微机电系统,包括根据权利要求1-13中任一权利要求的用于控制谐振频率(2,3)的装置。

15.如权利要求14所述的微机电系统,包括与所述用于控制谐振频率(2,3)的装置共同操作的控制单元(7)。

16.一种用于控制微机电系统(1)的谐振频率的方法,包括以下步骤:

设置微观结构(2)的振荡,所述微观结构(2)包括第一基体(10)和第二基体(11),所述第二基体(11)被电容性耦合到所述第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中所述第二基体(11)和所述第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及

将放大器(21)连接到所述微观结构(2),用于检测所述相对位移(ΔY);

所述方法的特征在于它包括将所述放大器(21)从所述微观结构(2)DC去耦的步骤。

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