[发明专利]全息存储介质、包含间隔物的记录层无效

专利信息
申请号: 200680020188.X 申请日: 2006-05-30
公开(公告)号: CN101194308A 公开(公告)日: 2008-06-04
发明(设计)人: F·舒尔曼斯;C·利登鲍姆 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G11B7/24
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李亚非;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 全息 存储 介质 包含 间隔 记录
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种全息存储介质。此外,本发明涉及一种全息存储介质的制造方法以及从该介质中读取数据的方法。

背景技术

在全息数据存储中,将整个信息组,也称为数据页或数据集,一次存储为光学干涉图案。为此目的,施加一种全息存储介质,它包括夹在基底和“覆盖”层之间的记录介质。该记录介质由厚的光敏光学材料形成。通过在存储材料内将两个相干激光束相交来实现全息存储。其中之一的光束,称为目标光束,包括要存储的信息;另一光束,称为参考光束,被设计为易于再现,例如具有基本平坦波前的准直光束。从激光束中产生的光学干涉图案导致在光敏介质中发生化学和/或物理变化。在记录介质中该干涉图案被复制为记录介质光学特性的变化。当在记录期间用两种波之一照射包括存储的干涉光栅的全息存储介质时,存储光栅以再现另一波的方式衍射某些入射光束。因此,可以获取存储的信息。

本发明的目的在于将已知的全息介质收缩问题降低到最低程度。当发生暴露于光束,即写入数据时,已知全息介质会产生收缩,这导致读出数据的重现精度较低,因而观测到较高的比特误差率。在文献中发现的关于光聚合物介质在完全曝光后的典型收缩值小于百分之一。特别是对于高数值孔径的驱动器,该值仍然相对较大并且导致问题。关于全息数据存储的其它问题涉及数据页的获取。在读取期间,为了定位各个数据集,需要获取伺服信号。

因此,本发明的目的是提供一种全息存储介质和涉及相关方法,从而将收缩降低到最低程度并改进读取性能。

发明内容

通过独立权利要求的特征达到上述目的。在独立权利要求中概述了本发明的进一步改进和优选实施例。

根据本发明,提供了一种全息存储介质,包括夹在基底层和覆盖层的记录介质,以及记录介质中提供的规则间隔装置,该规则间隔装置的光学特性不同于记录介质的光学特性,其中规则间隔装置限定了记录介质中的至少一个区域,该区域可以用于获取记录介质中存储的至少一个数据集的位置。基于实验证明的想法是全息介质的夹层结构主要在Z方向收缩,即垂直于夹层结构的平面的方向上收缩。为了防止这种收缩,记录介质充满间隔珠。间隔物的折射率显著地不同于全息材料之一。因此,当间隔物均匀地分布在整个材料上时,间隔物发散光束,这是不期望的。然而,根据本发明,间隔装置是规则的。这种规则的图案决定了介质中数据书(集)的位置,即在不存在间隔物的区域中。

具体地,规则间隔装置限定了数据集的边缘。因此,由于间隔物对光束的发散特性,书的边缘变得可见。从而方便了利用伺服信号获取书的位置。

优选地,规则间隔装置包括矩形线的图案。

根据进一步优选的实施例,规则间隔装置包括至少一个螺旋线。

这些是根据本发明的对于可以应用作为规则间隔装置的规则图案的两种示例。也可以应用多种其它图案。

根据本发明的优选实施例,在将记录层夹在基底和覆盖层之间之前,在基底和覆盖层至少之一上施加规则间隔装置。基于此,可以容易地施加规则间隔装置,而无需实施过于复杂的制造处理。

在这种意义上,通过光刻在基底和覆盖层至少之一上施加规则间隔装置。

因此,本发明还涉及一种全息存储介质的制造方法,该全息存储介质包括夹在基底和覆盖层之间的记录介质,以及在记录介质中提供的规则间隔装置,该规则间隔装置的光学特性不同于记录介质的光学特性,该方法包括步骤:

在基底和覆盖层至少之一上施加规则间隔装置,以及

在施加步骤之后,将记录介质夹在基底层和覆盖层之间。

如上所述,当通过光刻在基底和覆盖层至少之一上施加规则间隔装置时,这种制造方法特别有利。

本发明还涉及一种从全息存储介质读取数据的方法,该全息存储介质包括夹在基底层和覆盖层之间的记录介质,以及在记录介质中提供的规则间隔装置,该规则间隔装置的光学特性不同于记录介质的光学特性,该方法包括步骤:根据规则间隔装置获取记录介质中存储的至少一个数据集的位置。

本发明的这些和其它方面将参照此后描述的实施例变得明显并且被阐明。

附图说明

图1显示了根据现有技术的全息存储介质的横截面图。

图2显示了根据本发明的全息存储介质的横截面图。

图3显示了根据本发明的全息存储介质的第一实施例的顶视图。

图4显示了根据本发明的全息存储介质的第二实施例的顶视图。

具体实施方式

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