[发明专利]气流内被传输颗粒的流内光谱元素分析有效
申请号: | 200680021049.9 | 申请日: | 2006-06-16 |
公开(公告)号: | CN101198845A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
发明(设计)人: | R·E·阿克曼;E·R·恩佩;J·P·斯特伦斯基 | 申请(专利权)人: | 赛默伽马-梅特里克斯有限责任公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/30 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 曾祥夌;刘华联 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 气流 传输 颗粒 光谱 元素 分析 | ||
1.一种颗粒呈现设备,用于呈现在气流内传输用于流内光谱元素分析的颗粒,所述设备包括:
颗粒混合部分,用于均质化具有显著不同尺寸的颗粒分布,所述颗粒容纳于具有随机分布颗粒的气流内;以及
颗粒取样部分,其包括适于供颗粒激发束与光子发射穿过的窗口,以及管路,所述管路用于让颗粒的所述均质化气流传输经过所述窗口,从而使穿过所述窗口的颗粒激发束能够穿入到所述均质化颗粒流中。
2.如权利要求1所述的设备,其特征在于,与钻机组合,其中所述颗粒混合部分配接到所述钻机的出口管上,用于容纳所述随机分布颗粒的气流,所述颗粒从钻孔排出。
3.如权利要求1所述的设备,其特征在于,所述窗口为聚焦透镜。
4.如权利要求1所述的设备,其特征在于,进一步包括:
用于减少所述流内所述颗粒与所述窗口接触的装置,用于减少对所述窗口的损坏。
5.如权利要求4所述的设备,其特征在于,所述用于减少接触的装置包括用于将清洁空气喷射流导向经过或导向至所述窗口内表面的装置。
6.如权利要求1所述的设备,其特征在于,与装置组合,所述装置用于在压力下或重力下将所述气流推动经过所述颗粒混合部分和所述颗粒取样部分。
7.一种颗粒呈现方法,用于对具有显著不同尺寸的颗粒进行流内光谱元素分析,所述颗粒容纳于具有随机分布颗粒的气流内,所述方法包括步骤:
(a)均质化所述具有显著不同尺寸的颗粒的分布,所述颗粒容纳于具有随机分布颗粒的气流内;
(b)让所述颗粒的均质化流传输经过窗口,所述窗口适于供颗粒激发束与光子发射穿过;
(c)将颗粒激发束穿过所述窗口而发射到传输经过所述窗口的所述颗粒均质化流中,从而在所述流内激发所述颗粒中的一些,在等离子冷却的过程中,光子自所述颗粒穿过所述窗口而发射,所述光子具有波长,所述波长为所述颗粒的所述成份元素或分子的特性;以及
(d)将穿过所述窗口而被发射的所述光子导向至光谱仪。
8.如权利要求7所述的方法,其特征在于,进一步包括步骤:
(e)从钻孔接收所述随机分布颗粒的气流,所述气流依照步骤(a)而均质化,其中所述颗粒从所述钻孔排出。
9.如权利要求7所述的方法,其特征在于,进一步包括步骤:
(e)减少所述流内的所述颗粒与所述窗口的接触,以便减少对所述窗口的损坏。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,步骤(f)包括步骤:
(f)将清洁空气喷射流导向经过或导向至所述窗口的内表面。
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