[发明专利]用于检测行进中的长产品的表面和结构缺陷的方法和设备

权利要求书

1.一种用于检测在轧制设备中行进的产品(1)的缺陷的方法，所述方法包括至少一个照明操作(ECL)、获取操作(ACQ)、预处理操作(PTTRM)、质量可疑区域的检测和提取操作(DETEXTR)以及分类操作(CLASS)，所述照明操作在于利用光源(6)照亮所述行进产品，所述获取操作在于通过扫描而形成在第一光谱带中观察到的所述行进产品的第一图像，所述预处理操作至少在于由所述产品的观察区域的所述第一图像产生所述区域的第一数字化亮度分布，所述检测和提取操作在于利用所述产品的所述观察区域的所述第一数字化亮度分布来检测所述区域中可能的缺陷的存在和位置，以及所述分类操作至少在于通过将所述质量可疑区域的形态的和/或光度特征与保存在预先创建的数据库中的已知缺陷和已知无缺陷的形态的和/或光度特征进行比较，而将所述质量可疑区域分成一个或多个缺陷种类或者无缺陷种类；其特征在于，所述方法被应用于在热轧设备中行进并且自发地发出光辐射的产品(1)，所述光辐射位于包括红外线在内的自发辐射光谱中；其特征还在于，所述照明操作(ECL)通过利用可见光源(6)照亮所述行进产品来执行，所述光源(6)发出至少在所述自发辐射光谱之外的光；其特征还在于，所述获取操作(ACQ)在于形成所述产品的同一观察区域的至少三个图像(I₁，I₂，I₃)，所述至少三个图像位于三个各自不相邻的光谱带中，所述三个各自不相邻的光谱带中的第一光谱带至少位于红外区中、第二光谱带至少位于红色区域中、以及第三光谱带至少位于所述自发辐射光谱之外的可见光谱的一部分中；其特征还在于，所述预处理操作(PTTRM)至少在所述三个图像(I₁，I₂，I₃)上执行，以提供至少三个通过多个比特进行数字化的各自的亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)；其特征还在于，所述质量可疑区域(Z_IR，Z_R，Z_V，Z₄)的所述检测和提取操作(DETEXTR)至少在所述数字化亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)上执行；其特征还在于，所述分类操作(CLASS)在于至少通过将所述质量可疑区域(Z_IR，Z_R，Z_v和Z₄)的形态的和/或光度特征及其在所述数字化亮度分布(DL_IR，DL_R和DL_V)中的分配，与预先创建的数据库中保存的已知内部缺陷、已知表面缺陷和已知无缺陷的相应的数字化分布中的形态的和/或光度特征以及分配进行比较，从而至少将从所述数字化亮度分布(DL_IR，DL_R，DL_V，DL₄)中提取出的所述质量可疑区域(Z_IR，Z_R，Z_v和Z₄)分成产品内部缺陷、产品表面缺陷或产品无缺陷中的一类或多类。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述图像(I₁，I₂，I₃)通过各自的传感器(313)而形成，所述传感器至少对红外线敏感且产生各自的未加工的图像(I₁₁₀，I₂₁₀，I₃₁₀)，其特征还在于，第一图像(I₁)形成于红外区域中，并且直接通过在使波长比红外线短的辐射无法穿透的滤光器后面捕获第一未加工的图像(I₁₁₀)而得到，其特征还在于，第二和第三图像(I₂，I₃)分别通过从第二和第三未加工的图像(I₂₁₀，I₃₁₀)中减去所述第一未加工的图像(I₁₁₀)而得到。

3.如权利要求1或者2所述的方法，其特征在于，所述照明操作(ECL)在于利用绿光光源(4)照亮所述产品，其特征还在于，所述第三图像形成于绿色区域中。