[发明专利]用于校准光反射测量的系统和方法

权利要求书

1.一种测量系统，包括：

(a)光源；

(b)检测系统；

(c)一组至少第一、第二和第三光端口，所述组从所述光源传输光到样品并从样品接收光并导向所述检测系统，其中第一端口和第三端口之间的距离构成第一检测距离，第二端口和第三端口之间的距离构成第二检测距离，其中第一检测距离大于第二检测距离，且其中(i)第一和第二端口是传输端口而第三端口是接收端口，或者(ii)第一和第二端口是接收端口而第三端口是传输端口；以及

其中所述检测系统产生相应于第一检测距离的第一组数据和相应于第二检测距离的第二组数据，其中所述第一组数据包括相应于样品内的内部目标和覆盖在该内部目标上方的特征两者的信息，所述第二组数据包括相应于覆盖在所述内部目标上方的特征的信息，以及

(d)处理器，构造为可以使用所述第一和第二组数据从所述第一组数据移除所述覆盖在上方的特征的信息特征，以产生描述所述内部目标的已校准信息。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述一组至少第一、第二和第三端口位于单个探头上。

3.如权利要求1所述的系统，其中，所述检测系统是光谱检测系统，所述第一和第二组数据包括第一和第二组光谱，并且所述处理器使用所述第一和第二组光谱数据从第一组光谱数据移除所述覆盖在上方的特征的光谱信息特征，以产生表示所述内部目标的已校准光谱信息。

4.如权利要求1所述的系统，其中，所述第二检测距离在1mm和5mm之间。

5.如权利要求1所述的系统，其中，所述第二检测距离在1.5mm和3.5mm之间。

6.如权利要求1所述的系统，其中，所述第一检测距离大于10mm。

7.如权利要求1所述的系统，其中，进一步包括遮光器系统，所述遮光器系统用于控制来自所述第一或第二传输端口的光是否照射样品。

8.如权利要求3所述的系统，其中，所述光谱检测系统包括光谱仪，所述光谱仪被构造为接收光并根据接收的光产生多组光谱。

9.如权利要求3所述的系统，其中，所述光谱检测系统包括第一光谱仪和第二光谱仪，所述第一光谱仪被构造为从所述第一接收端口接收光并产生所述第一组光谱，所述第二光谱仪被构造为从所述第二接收端口接收光并产生所述第二组光谱。

10.如权利要求2所述的系统，其中，所述探头包括导热材料以散失来自样品的热量。

11.如权利要求1所述的系统，其中，进一步包括在光传输端口和光接收端口之间的导热桥。

12.如权利要求3所述的系统，其中，所述处理器被进一步构造为从所述第一组光谱数据移除作为所述内部目标的与其中所关心的被分析物无关的光学散射特性差异的特征的光谱信息。

13.如权利要求3所述的系统，其中，所述处理器被进一步构造为从所述表示内部目标的已校准的光谱数据中移除作为所述内部目标的与其中所关心的被分析物无关的光学散射特性差异的特征的光谱信息。

14.如权利要求1所述的系统，其中，所述光源提供处在电磁光谱的近红外线区域的光。

15.如权利要求1所述的系统，其中，所述光源包括白炽光源元件、发光二极管、激光二极管和激光器中的至少一个。

16.如权利要求1所述的系统，其中，所述光源包括发光二极管阵列。