[发明专利]用于CT成像的整体去噪的方法和装置有效
申请号: | 200680022873.6 | 申请日: | 2006-04-25 |
公开(公告)号: | CN101237820A | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | R·凝 | 申请(专利权)人: | 罗切斯特大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 张雪梅;张志醒 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 ct 成像 整体 方法 装置 | ||
1. 一种用于产生对象的整体去噪的锥束3D图像的方法,该方法包括:
(a)从对象获取原始锥束层析X射线投影图像数据;
(b)对图像数据应用小波域去噪技术;
(c)对图像数据应用至少一种其它的去噪技术;和
(d)由经去噪后的投影图像数据重建最终图像以实现整体去噪。
2. 根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一种其它的去噪技术包括投影域中的至少一种其它的去噪技术。
3. 根据权利要求2所述的方法,其中所述投影域中的至少一种其它的去噪技术包括基于傅立叶变换的去噪技术。
4. 根据权利要求2所述的方法,其中所述投影域中的至少一种其它的去噪技术包括基于数字重建滤波的去噪技术。
5. 根据权利要求1所述的方法,其中所述至少一种其它的去噪技术包括重建域中的去噪技术。
6. 根据权利要求1所述的方法,进一步包括:
(e)在重建图像中测量代表重建图像质量的量;
(f)将该量与该量的必需值比较;和
(g)使用步骤(f)的结果来为步骤(a)-(c)中的至少一个提供反馈。
7. 根据权利要求6所述的方法,其中该至少一个量包括对比度-噪声比。
8. 一种用于产生感兴趣的区域的去噪图像的系统,所述系统包括:
在所述感兴趣的区域上产生入射的辐射源;
用于在辐射在所述感兴趣的区域上入射后检测该辐射并输出原始投影图像数据的检测器;和
处理设备,其与检测器进行电子通信,用于:
(a)从对象获取原始锥束层析X射线投影图像数据;
(b)对图像数据应用小波域去噪技术;
(c)对图像数据应用至少一种其它的去噪技术;和
(d)由经去噪后的投影图像数据重建最终图像以实现整体去噪。
9. 根据权利要求8所述的系统,其中所述至少一种其它的去噪技术包括投影域中的至少一种其它的去噪技术。
10. 根据权利要求9所述的系统,其中所述投影域中的至少一种其它的去噪技术包括基于傅立叶变换的去噪技术。
11. 根据权利要求9所述的系统,其中所述投影域中的至少一种其它的去噪技术包括基于数字重建滤波的去噪技术。
12. 根据权利要求8所述的系统,其中所述至少一种其它的去噪技术包括重建域中的去噪技术。
12. 根据权利要求8所述的系统,其中所述处理设备进一步执行:
(e)在重建图像中测量代表重建图像质量的量;
(f)将该量与该量的必需值比较;和
(g)使用步骤(f)的结果在所述处理设备执行步骤(a)-(c)中的至少一个时提供反馈。
13. 根据权利要求12所述的系统,其中该至少一个量包括载噪比。
14. 根据权利要求8所述的系统,其中所述源包括X射线源。
15. 根据权利要求8所述的系统,其中所述检测器包括二维检测器。
16. 根据权利要求15所述的系统,其中所述二维检测器是平板检测器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于罗切斯特大学,未经罗切斯特大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200680022873.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测试包含秘密信息的集成电路的方法
- 下一篇:联二脲连续生产工艺