[发明专利]用于减少在有机功能设备中出现短路故障的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于减少在有机功能设备中出现短路故障的方法，该有机功能设备包括第一透明电极层、第二电极层以及夹在所述第一和第二电极层之间的有机功能层。

背景技术

所有有机功能设备的共同之处在于将至少一个有机层夹在一对电极层之间并且与这一对电极层相互作用，所述有机功能设备如有机发光二极管(OLED)、有机太阳能电池、有机光伏元件(organicphotovoltaic element)、有机光电二极管、有机光敏器件等。在OLED中，在电极层之间施加电压导致该有机层发射光，而在有机太阳能电池中，该有机层吸收光导致在电极层之间产生电压。

在制造有机功能设备时产生缺陷有一定的概率。一些缺陷可能仅仅不太重要，且该设备可能在这种情况下被交付给消费者，而消费者一方没有任何不满意。另一些缺陷可能使该设备对于消费者来说无用，因此这样的设备可能不被运送。特别重要的是那些在制造时看不见但却导致设备在使用时出现错误的缺陷，典型地短路故障。这些错误除了致使消费者不满意之外，当在保修期内发生时会导致制造公司的相当大的直接成本。通常，具有在操作过程中的短路故障的增大的可能性的设备可以在运输之前被识别并将其处理掉。但是在一些情况下，这样的程序可能造成不能接受的低生产收益率(productionyield)。

关于这一点，应该提到日本专利申请JP2004199970。在该文献中公开了一种用于检测和修理在电致发光(EL)显示器中的短路的方法。根据该方法，利用两台显微镜高精度地检测短路位置，所述两台显微镜即一台光学显微镜和一台红外显微镜。在该检测之后，用激光辐照该短路位置并将其“烧掉”。

JP2004199970的方法具有的问题是需要非常高的精度以精确地定位和去除短路。通常，高精度要求昂贵的设备和/或很长的时间。此外，根据JP2004199970的方法看来似乎仅适合于由点缺陷引起的短路。

因此需要一种用于减少出现短路故障的改进的且更有成本效益的方法。

发明内容

鉴于现有技术的上述和其他缺陷，本发明的一般目的是提供一种用于减少在有机功能设备中出现短路故障的改进的方法。

本发明的另一个目的在于使得能够更有成本效益地减少这种短路故障的出现。

根据本发明，通过一种用于减少在有机功能设备中出现短路故障的方法来实现这些和其他目的，所述有机功能设备包括第一透明电极层、第二电极层和夹在该第一和第二电极层之间的有机功能层，包括以下步骤：识别该有机功能设备中包含缺陷的一个部分，所述缺陷致使短路故障的风险增大，选择第二电极层的一个段，该段对应于该部分，并且使该段与第二电极层的剩余部分电绝缘，由此消除由该缺陷引起的短路故障。

有机功能设备的例子包括有机发光二极管(OLED)、有机光电池、有机光伏元件、有机光电二极管和有机光敏器件。

术语“电极层”应当理解为导电层，该导电层可以是透光的或者不透光的。

透明的电极层可以例如由本来就导电且透明的任何材料来制造，或者可选择地由足够薄的金属层来制造，所述金属层可以结合透明的导电或不导电层来提供。

有机功能层可以由具有不同功能(如空穴注入、空穴传输、空穴阻挡(blocking)、激发阻挡、电子阻挡、电子传输、电子注入或光发射、光吸收层)的许多不同的有机层或其混合来组成，但也可以包括如三重态发射器(triplet emitter)的金属-有机材料，或者如电介质、半导体或者金属量子点的无机材料或者纳米粒子。

识别的缺陷可能是已经显现的短路，或者可能是在后面的阶段导致出现短路故障的缺陷。这种缺陷可以例如是在制造过程中陷入(trap)在设备内部的灰尘斑点或其他外来材料，或者针孔等等。

这种缺陷可能出现在设备中所包括的任一层中或者两层之间。通常，缺陷被识别(identify)为设备的二维部分。

通过根据本发明的方法，可以处理可能发展为短路的缺陷以及实际的短路缺陷。因此可以显著地减少在有机功能设备的操作过程中出现短路故障。

此外，由于与识别的缺陷相对应的电极层的多个段被电绝缘，而不是将这些识别的缺陷予以精确地找到(pin-pointed)并被“烧掉”，因此增大了通过本发明的方法所获得的可靠性。

通过这些段的电绝缘，与现有技术相比降低了对精度的要求。由此可以更快速地并且利用更不精密复杂(sofisticated)的设备来执行本发明的方法。因此降低了在资本支出和处理时间方面的成本。