[发明专利]检测光盘内的数据恶化无效

专利信息
申请号: 200680024051.1 申请日: 2006-06-27
公开(公告)号: CN101213605A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: J·J·M·M·吉伦 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11B27/36
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李静岚;谭祐祥
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要:
搜索关键词: 检测 光盘 数据 恶化
【权利要求书】:

1.一种用于确定光学介质上的错误的方法,包括:

按照均匀的方式在该光学介质上定义一组纠错码(ECC)块;

读取该组ECC块当中的每一个;

为该组ECC块确定ECC校正的数目;

把所述ECC校正的数目与预定阈值进行比较,该预定阈值表明可接受的校正水平;以及

响应于所述比较步骤,如果所述ECC校正的数目没有超出该预定阈值则继续正常使用该光学介质,或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。

2.权利要求1的方法,其中,所述读取步骤还包括:把该组ECC块当中的每一个读取多次。

3.权利要求2的方法,其中,所述确定步骤还包括:为该组ECC块当中的每一个确定ECC校正的平均数目,并且把所述ECC校正的平均数目存储在所述光学介质上。

4.权利要求3的方法,其中,所述比较步骤还包括:对于该组ECC块当中的每一个,把所述ECC校正的平均数目与先前存储的ECC校正的平均数目进行比较。

5.权利要求4的方法,其中,所述响应步骤还包括:响应于所述比较步骤,如果所述ECC校正的数目没有超出所述预定阈值则继续正常使用所述光学介质,或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。

6.权利要求1的方法,还包括以下步骤:存储所述ECC校正的数目。

7.权利要求6的方法,其中,存储所述ECC校正的数目的步骤还包括:把所述ECC校正的数目作为文件存储在所述光学介质上。

8.权利要求6的方法,其中,存储所述ECC校正的数目的步骤还包括:把所述ECC校正的数目存储在所述光学介质上的逻辑地址空间之外的保留区域内。

9.权利要求6的方法,其中,存储所述ECC校正的数目的步骤还包括:把利用与该组ECC块相同的ECC结构进行编码的所述ECC校正的数目存储在所述光学介质上。

10.权利要求1的方法,其中,所述预定阈值是最大阈值,并且所述响应步骤还包括:如果达到该最大阈值,则警告必须拷贝所述光学介质。

11.一种用于确定光学介质上的错误的系统,包括:

光学系统,其能够读取按照均匀的方式被包含在该光学介质上的一组纠错码(ECC)块;

处理设备,其被编程来为该组ECC块确定ECC校正的数目;

比较例程,其把所述ECC校正的数目与预定阈值进行比较,该预定阈值表明可接受的校正水平;以及

响应例程,其对所述比较例程做出响应,如果所述ECC校正的数目没有超出该预定阈值则继续正常使用该光学介质,或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。

12.权利要求11的系统,其中,所述光学系统还能够进行的读取还包括把该组ECC块当中的每一个读取多次。

13.权利要求12的系统,其中,所述处理设备还为该组ECC块当中的每一个确定ECC校正的平均数目,并且把所述ECC校正的平均数目存储在所述光学介质上。

14.权利要求13的系统,其中,所述比较例程还包括求平均例程,其对于该组ECC块当中的每一个,把所述ECC校正的数目与先前存储的ECC校正的平均数目求平均。

15.权利要求14的系统,其中,所述响应例程还对所述比较例程步骤做出响应,如果所述ECC校正的数目没有超出所述预定阈值则继续正常使用所述光学介质,或者提供一个指示以表明所述ECC校正的数目超出该预定阈值。

16.权利要求11的系统,其中,所述光学系统还能够存储所述ECC校正的数目。

17.权利要求16的系统,其中,所述光学系统把所述ECC校正的数目作为文件存储在所述光学介质上。

18.权利要求16的系统,其中,所述光学系统把所述ECC校正的数目存储在所述光学介质上的逻辑地址空间之外的保留区域内。

19.权利要求16的系统,其中,所述光学系统把利用与该组ECC块相同的ECC结构进行编码的所述ECC校正的数目存储在所述光学介质上。

20.权利要求11的系统,其中,所述预定阈值是最大阈值,并且所述响应例程还包括警告例程,如果达到该最大阈值,则该警告例程提供关于必须拷贝所述光学介质的警告。

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