[发明专利]用于侧向流动化验测试条的校准系统无效
申请号: | 200680024435.3 | 申请日: | 2006-07-03 |
公开(公告)号: | CN101238372A | 公开(公告)日: | 2008-08-06 |
发明(设计)人: | B·欧文 | 申请(专利权)人: | 拜尔保健公司 |
主分类号: | G01N33/543 | 分类号: | G01N33/543;G01N33/53 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 韩宏 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 侧向 流动 化验 测试 校准 系统 | ||
技术领域
本发明涉及用于侧向流动化验测试条测量系统的校准系统。
背景技术
使用侧向流动化验测试条时,一个常见的问题是不同的测试条趋于产生稍微不同的结果。不幸地是,即使测试条内具有相同数量的试剂,并且即使它们都暴露到相同数量的分析物中,也没有两个测试条有完全相同的表现(即产生相同的检测结果数值)。侧向流动化验检测结果中的这种差异如下解释:各测试条的物理性质不同,沿着不同测试条的流体流动路径不同。因而,希望提供一种系统来减小或补偿不同测试条之间的性能不同。
当由不同批次的材料制造测试条时,不同测试条表现出稍微不同的检测结果的问题变得甚至更加显著。这是由于不同批次的测试条材料趋于具有稍微不同的物理性质这一事实。这些材料性质影响在测试条内变干的试剂的空间分布,因此影响了它们在流动液体内重新组成的效率。
因此,希望提供一种系统,其补偿了以下两种情况下不同测试条之间的性能区别:(a)当测试条由相同批次的材料制成时,以及(b)当测试条由不同批次的材料制成时。
发明内容
本发明提供了一种校准系统,其调整在测试条上测量的最终反射系数值,以补偿在选择的相似测试条之间表现出的结果变化。在一优选的方面,校准系统通过与均来自同一生产批次的其它测试条所展示的检测结果相比较而调整最终测量的反射系数值。
在另一优选的方面,校准系统选取用于执行调整最终反射系数的特定方法。方法的选择可以包括识别反射系数曲线以及相关的参数值,这是给定生产批次的测试条的独有特性。这种选择用于调整来自特定生产批次的测试条的最终反射系数值的特定方法的系统是特别有益的,这是由于由不同生产批次的材料制造的每一个测试条都可以不同地校准。
在一优选的方面,本发明提供了如下的用于调整在侧向流动化验测试条上测量的最终信号值的方法:识别测试条的预先确定的校准方法,其中,被选择的预先确定的校准方法代表了制造测试条的生产批次。当在测试条上进行侧向流动化验反应时,测量信号值;确定最终信号值;并且随后基于识别的用于测试条的预先选择的校准方法来调整最终信号值。
对于特定生产批次的测试条,为测试条预先确定的校准方法包括:当在测试条上进行侧向流动化验反应时,测量信号值;确定最小的信号值;测量中间信号值,其中,所述中间信号值是在测量最小信号值后的预定时间段内测量的;确定最终信号值;并且基于中间信号值调整最终信号值。可选地,可以使用多于一个的中间信号值,其中,在不同的时间测量每一个中间信号值。同样可选地,预定的时间段可以为零。
对于另一特定生产批次的测试条,为测试条预先确定的校准方法包括:当在测试条上进行侧向流动化验反应时,测量信号值;确定最小的信号值;确定测量最小信号值的时间,确定最终信号值;并且基于最小信号值和/或测量最小信号值的时间来调整最终信号值。
对于另一特定生产批次的测试条,为测试条预先确定的校准方法包括:当在测试条上进行侧向流动化验反应时,测量信号值,确定低于阈值的总信号;确定最终信号值;并且基于测量的低于阈值的总信号来调整最终信号值。
附图说明
图1示出来自第一生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线。
图2示出来自第二生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线。
图3示出来自第三生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线。
图4示出来自第四生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线。
图5示出来自第五生产批次的材料的侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线。
具体实施方式
图1-5中都示出用于多个侧向流动化验测试条的代表样品的反射系数曲线,示出测试条的检测区的不同的动力学模式,其中:图1所示的所有测试条由第一生产批次的材料制造;图2所示的所有测试条由第二生产批次的材料制造,等等。
下面提供的例子涉及测试条的反射系数曲线。应当理解,本发明不限制于此,其它的光学性质,包括荧光性或发光性质,可以作为替代。也应当理解,其它的非光学性质,包括电化学信号值和直接光透射信号值,也可以来和本校准系统一起使用。
根据本发明,提供特定的校准系统用于不同批次的测试条,它们具有图1-5所示的动力学性质。例如,图1所示批次的测试条均用一种优选方法校准。同样,图2所示的每一个测试条均用另一优选方法校准,对图3-5所示的测试条进行类似操作。下面详细解释校准测试条的具体方法及对图1-5的每个测试条生产批次进行反射系数值调整的具体方法。
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